Belle II Technical Design Report

Autor: Abe, T., Adachi, I., Adamczyk, K., Ahn, S., Aihara, H., Akai, K., Aloi, M., Andricek, L., Aoki, K., Arai, Y., Arefiev, A., Arinstein, K., Arita, Y., Asner, D. M., Aulchenko, V., Aushev, T., Aziz, T., Bakich, A. M., Balagura, V., Ban, Y., Barberio, E., Barvich, T., Belous, K., Bergauer, T., Bhardwaj, V., Bhuyan, B., Blyth, S., Bondar, A., Bonvicini, G., Bozek, A., Bracko, M., Brodzicka, J., Brovchenko, O., Browder, T. E., Cao, G., Chang, M. -C., Chang, P., Chao, Y., Chekelian, V., Chen, A., Chen, K. -F., Chen, P., Cheon, B. G., Chiang, C. -C., Chistov, R., Cho, K., Choi, S. -K., Chung, K., Comerma, A., Cooney, M., Cowley, D. E., Critchlow, T., Dalseno, J., Danilov, M., Dieguez, A., Dierlamm, A., Dillon, M., Dingfelder, J., Dolenec, R., Dolezal, Z., Drasal, Z., Drutskoy, A., Dungel, W., Dutta, D., Eidelman, S., Enomoto, A., Epifanov, D., Esen, S., Fast, J. E., Feindt, M., Garcia, M. Fernandez, Fifield, T., Fischer, P., Flanagan, J., Fourletov, S., Fourletova, J., Freixas, L., Frey, A., Friedl, M., Fruehwirth, R., Fujii, H., Fujikawa, M., Fukuma, Y., Funakoshi, Y., Furukawa, K., Fuster, J., Gabyshev, N., Cueto, A. Gaspar de Valenzuela, Garmash, A., Garrido, L., Geisler, Ch., Gfall, I., Goh, Y. M., Golob, B., Gorton, I., Grzymkowski, R., Guo, H., Ha, H., Haba, J., Hara, K., Hara, T., Haruyama, T., Hayasaka, K., Hayashi, K., Hayashii, H., Heck, M., Heindl, S., Heller, C., Hemperek, T., Higuchi, T., Horii, Y., Hou, W. -S., Hsiung, Y. B., Huang, C. -H., Hwang, S., Hyun, H. J., Igarashi, Y., Iglesias, C., Iida, Y., Iijima, T., Imamura, M., Inami, K., Irmler, C., Ishizuka, M., Itagaki, K., Itoh, R., Iwabuchi, M., Iwai, G., Iwai, M., Iwasaki, M., Iwasaki, Y., Iwashita, T., Iwata, S., Jang, H., Ji, X., Jinno, T., Jones, M., Julius, T., Kageyama, T., Kah, D. H., Kakuno, H., Kamitani, T., Kanazawa, K., Kapusta, P., Kataoka, S. U., Katayama, N., Kawai, M., Kawai, Y., Kawasaki, T., Kennedy, J., Kichimi, H., Kikuchi, M., Kiesling, C., Kim, B. K., Kim, G. N., Kim, H. J., Kim, H. O., Kim, J. -B., Kim, J. H., Kim, M. J., Kim, S. K., Kim, K. T., Kim, T. Y., Kinoshita, K., Kishi, K., Kisielewski, B., van Dam, K. Kleese, Knopf, J., Ko, B. R., Koch, M., Kodys, P., Koffmane, C., Koga, Y., Kohriki, T., Koike, S., Koiso, H., Kondo, Y., Korpar, S., Kouzes, R. T., Kreidl, Ch., Kreps, M., Krizan, P., Krokovny, P., Krueger, H., Kruth, A., Kuhn, W., Kuhr, T., Kumar, R., Kumita, T., Kupper, S., Kuzmin, A., Kvasnicka, P., Kwon, Y. -J., Lacasta, C., Lange, J. S., Lee, I. -S., Lee, M. J., Lee, M. W., Lee, S. -H., Lemarenko, M., Li, J., Li, W. D., Li, Y., Libby, J., Limosani, A., Liu, C., Liu, H., Liu, Y., Liu, Z., Liventsev, D., Virto, A. Lopez, Makida, Y., Mao, Z. P., Marinas, C., Masuzawa, M., Matvienko, D., Mitaroff, W., Miyabayashi, K., Miyata, H., Miyazaki, Y., Miyoshi, T., Mizuk, R., Mohanty, G. B., Mohapatra, D., Moll, A., Mori, T., Morita, A., Morita, Y., Moser, H. -G., Martin, D. Moya, Mueller, T., Muenchow, D., Murakami, J., Myung, S. S., Nagamine, T., Nakamura, I., Nakamura, T. T., Nakano, E., Nakano, H., Nakao, M., Nakazawa, H., Nam, S. -H., Natkaniec, Z., Nedelkovska, E., Negishi, K., Neubauer, S., Ng, C., Ninkovic, J., Nishida, S., Nishimura, K., Novikov, E., Nozaki, T., Ogawa, S., Ohmi, K., Ohnishi, Y., Ohshima, T., Ohuchi, N., Oide, K., Olsen, S. L., Ono, M., Ono, Y., Onuki, Y., Ostrowicz, W., Ozaki, H., Pakhlov, P., Pakhlova, G., Palka, H., Park, H., Park, H. K., Peak, L. S., Peng, T., Peric, I., Pernicka, M., Pestotnik, R., Petric, M., Piilonen, L. E., Poluektov, A., Prim, M., Prothmann, K., Regimbal, K., Reisert, B., Richter, R. H., Riera-Babures, J., Ritter, A., Ritter, M., Roehrken, M., Rorie, J., Rosen, M., Rozanska, M., Ruckman, L., Rummel, S., Rusinov, V., Russell, R. M., Ryu, S., Sahoo, H., Sakai, K., Sakai, Y., Santelj, L., Sasaki, T., Sato, N., Sato, Y., Scheirich, J., Schieck, J., Schwanda, C., Schwartz, A. J., Schwenker, B., Seljak, A., Senyo, K., Seon, O. -S., Sevior, M. E., Shapkin, M., Shebalin, V., Shen, C. P., Shibuya, H., Shiizuka, S., Shiu, J. -G., Shwartz, B., Simon, F., Simonis, H. J., Singh, J. B., Sinha, R., Sitarz, M., Smerkol, P., Sokolov, A., Solovieva, E., Stanic, S., Staric, M., Stypula, J., Suetsugu, Y., Sugihara, S., Sugimura, T., Sumisawa, K., Sumiyoshi, T., Suzuki, K., Suzuki, S. Y., Takagaki, H., Takasaki, F., Takeichi, H., Takubo, Y., Tanaka, M., Tanaka, S., Taniguchi, N., Tarkovsky, E., Tatishvili, G., Tawada, M., Taylor, G. N., Teramoto, Y., Tikhomirov, I., Trabelsi, K., Tsuboyama, T., Tsunada, K., Tu, Y. -C., Uchida, T., Uehara, S., Ueno, K., Uglov, T., Unno, Y., Uno, S., Urquijo, P., Ushiroda, Y., Usov, Y., Vahsen, S., Valentan, M., Vanhoefer, P., Varner, G., Varvell, K. E., Vazquez, P., Vila, I., Vilella, E., Vinokurova, A., Visniakov, J., Vos, M., Wang, C. H., Wang, J., Wang, M. -Z., Wang, P., Wassatch, A., Watanabe, M., Watase, Y., Weiler, T., Wermes, N., Wescott, R. E., White, E., Wicht, J., Widhalm, L., Williams, K. M., Won, E., Xu, H., Yabsley, B. D., Yamamoto, H., Yamaoka, H., Yamaoka, Y., Yamauchi, M., Yin, Y., Yoon, H., Yu, J., Yuan, C. Z., Yusa, Y., Zander, D., Zdybal, M., Zhang, Z. P., Zhao, J., Zhao, L., Zhao, Z., Zhilich, V., Zhou, P., Zhulanov, V., Zivko, T., Zupanc, A., Zyukova, O.

The Belle detector at the KEKB electron-positron collider has collected almost 1 billion Y(4S) events in its decade of operation. Super-KEKB, an upgrade of KEKB is under construction, to increase the luminosity by two orders of magnitude during a thr

Externí odkaz: http://arxiv.org/abs/1011.0352

The framework for approximate queries on simulation data

Autor: Lee, B., Critchlow, T., Abdulla, G., Baldwin, C., Kamimura, R., Musick, R., Snapp, R., Tang, N.

Publikováno v: In Information Sciences 2003 157:3-20

Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.

Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.

Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.