Zobrazeno 1 - 10
of 119
pro vyhledávání: '"Cretu Ovidiu"'
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Autor:
Cretu, Ovidiu, Lin, Yung-Chang, Koshino, Masanori, Tizei, Luiz H. G., Liu, Zheng, Suenaga, Kazutomo
Imaging and spectroscopy performed in a low-voltage scanning transmission electron microscope (LV-STEM) are used to characterize the structure and chemical properties of boron-terminated tetravacancies in hexagonal boron nitride (h-BN). We confirm ea
Externí odkaz:
http://arxiv.org/abs/1411.6722
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Autor:
Takeshi Kasaya, Han Zhang, Akihiro Ikeda, Akira Niwata, Yasushi Yamauchi, Shin-ichi Kitamura, Yu Jimbo, Akira Yasuhara, Hongxin Wang, Naohito Tsujii, Daisuke Fujita, Koji Kimoto, Hironobu Manabe, Hideki T. Miyazaki, Cretu Ovidiu
Publikováno v:
Nature Nanotechnology. 17:21-26
The size tunability and chemical versatility of nanostructures enable electron sources of high brightness and temporal coherence, both of which are important characteristics for high-resolution electron microscopy1–3. Despite intensive research eff