Zobrazeno 1 - 10
of 49
pro vyhledávání: '"Cremonesi C"'
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Publikováno v:
In Microelectronics Reliability 2001 41(7):999-1002
Autor:
Peschiaroli, D, Brambilla, M, Carnevale, GP, Cascella, A, Cazzaniga, F, Clementi, C, Cremonesi, C, Gilardini, A, Martinelli, M, Maurelli, A, Mica, I, Pavan, A, Pavia, G, Polignano, FP, Soncini, V, BONERA, EMILIANO
In this paper the critical factors for defect formation in device processing are identified and various approaches to the problem of defect suppression in device processing are discussed. The mechanisms of stress development are identified by compari
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=od______1299::339d542fade4c08582f92572e1743046
http://hdl.handle.net/10281/23563
http://hdl.handle.net/10281/23563
Kniha
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Autor:
Annunziata, R., Bottini, R., Colpani, P., Cremonesi, C., Ghidini, G., Gomiero, E., Pavia, G., Pio, F., Polignano, M. L., Servalli, G., Higgs, V.
Publikováno v:
MRS Online Proceedings Library; 2000, Vol. 610 Issue 1, p1-6, 6p
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.