Zobrazeno 1 - 10
of 39
pro vyhledávání: '"Coulié Karine"'
Publikováno v:
EPJ Web of Conferences, Vol 288, p 10017 (2023)
A particle detection chain based on a CMOSSOI VCO circuit associated to a 3x5 matrix of detection is presented. The solution is optimized for the recognition and tracking of low energy particles. Two ions are considered: an alpha and a lithium. These
Externí odkaz:
https://doaj.org/article/4416cb750371477fb86e5b50595438c2
Publikováno v:
E3S Web of Conferences, Vol 357, p 00001 (2022)
Externí odkaz:
https://doaj.org/article/0947323117d6435dafbd5a85fe2468d8
Publikováno v:
E3S Web of Conferences, Vol 88, p 06002 (2019)
This paper is devoted to an exhaustive presentation of a fast computation numerical tool, dedicated to the simulation of transient currents induced by stochastic events in microelectronic devices. This is a part of a numerical platform, SITARe, combi
Externí odkaz:
https://doaj.org/article/3df1ac17f5924470b324e2029b9f11d9
Autor:
Matteo, Franck, Coulié, Karine, Simola, Roberto, Postel-Pellerin, Jérémy, Melul, Franck, Regnier, Arnaud
Publikováno v:
In Microelectronics Reliability September 2022 136
Autor:
Eyméoud, Paul, Biondo, Stéphane, Vervisch, Vanessa, Ottaviani, Laurent, Grillet, Nadia, Roussel, Luc, Coulié, Karine, Palais, Olivier, Darréon, Julien, Vervisch, Wilfried
Publikováno v:
In Vacuum December 2024 230
Autor:
Aziza, Hassen, Hamdioui, Said, Fieback, Moritz, Taouil, Mottaqiallah, Moreau, Mathieu, Girard, Patrick, Virazel, Arnaud, Coulié, Karine
Publikováno v:
Microelectronics Reliability
Microelectronics Reliability, 2021, 126, pp.1877-1880. ⟨10.23919/DATE51398.2021.9473967⟩
DATE
Microelectronics Reliability, Elsevier, 2021, 126, pp.1877-1880. ⟨10.23919/DATE51398.2021.9473967⟩
Microelectronics Reliability, 2021, 126, pp.1877-1880. ⟨10.23919/DATE51398.2021.9473967⟩
DATE
Microelectronics Reliability, Elsevier, 2021, 126, pp.1877-1880. ⟨10.23919/DATE51398.2021.9473967⟩
International audience; Multi-Level Cell (MLC) technology can greatly reduce Resistive RAM (RRAM) die sizes to achieve a breakthrough in cost structure. In this paper, a novel design scheme is proposed to realize reliable and uniform MLC RRAM operati
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_dedup___::499395912847c0a4731151c3e3be19fb
https://hal.science/hal-03504284/file/electronics-10-02222-v2.pdf
https://hal.science/hal-03504284/file/electronics-10-02222-v2.pdf
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Autor:
Lesea, Austin1 Austin.Lesea@xilinx.com, Castellani-Coulié, Karine2 karine.castellani@univ-cezanne.fr, Waysand, Georges3 lsbb@geoazur.unice.fr, Le Mauff, Joel4 joel.lemauff@xilinx.com, Sudre, Christophe5 csudre@inseet.corn
Publikováno v:
IEEE Transactions on Nuclear Science. Aug2008 Part 1 of 2, Vol. 55 Issue 4, p3148-2153. 6p. 1 Diagram, 3 Graphs.