Zobrazeno 1 - 10
of 46
pro vyhledávání: '"Cote, W. A."'
Autor:
Gannot, Israel, Roodenko, Katy, Barton, J. B., Carver, G. E., Chanda, S. K., Cote, W. J., Locknar, Sarah, Gupta, Manish
Publikováno v:
Proceedings of SPIE; March 2022, Vol. 11953 Issue: 1 p119530G-119530G-7, 1075778p
Autor:
Karthikeyan, M., Cote, W., Medina, L., Shiling, E., Gasasira, A., Henning, A., Ferrante, W., Craig, M., Merbeth, T.
Publikováno v:
2008 IEEE International Conference on Microelectronic Test Structures; 2008, p56-61, 6p
Autor:
Karthikeyan, M., Fox, S., Cote, W., Yeric, G., Hall, M., Garcia, J., Mitchell, B., Wolf, E., Agarwal, S.
Publikováno v:
2006 IEEE International Conference on Microelectronic Test Structures; 2006, p104-109, 6p
Autor:
Edelstein, D., Rathore, H., Davis, C., Clevenger, L., Cowley, A., Nogami, T., Agarwala, B., Arai, S., Carbone, A., Chanda, K., Chen, F., Cohen, S., Cote, W., Cullinan, M., Dalton, T., Das, S., Davis, P., Demarest, J., Dunn, D., Dziobkowski, C.
Publikováno v:
Proceedings of the 2004 IEEE International Reliability Physics Symposium; 2004, p316-319, 4p
Autor:
Edelstein, D., Heidenreich, J., Goldblatt, R., Cote, W., Uzoh, C., Lustig, N., Roper, P., McDevitt, T., Motsiff, W., Simon, A., Dukovic, J., Wachnik, R., Rathore, H., Schulz, R., Su, L., Luce, S., Slattery, J.
Publikováno v:
International Electron Devices Meeting IEDM Technical Digest; 1997, p773-776, 4p
Publikováno v:
1988 Proceedings, Fifth International IEEE VLSI Multilevel Interconnection Conference; 1988, p21-28, 8p
Publikováno v:
1987 International Electron Devices Meeting; 1987, p209-212, 4p
Autor:
Ettinger, G.J., Grimson, W.E.L., Leventon, M.E., Kikinis, R., Gugino, V., Cote, W., Karapelou, M., Aglio, L., Shenton, M., Potts, G., Alexander, E.
Publikováno v:
Proceedings of the Workshop on Mathematical Methods in Biomedical Image Analysis; 1996, p32-41, 10p
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.