Zobrazeno 1 - 10
of 10
pro vyhledávání: '"Cook, Alejandro"'
Autor:
Cook, Alejandro
The automotive domain has strongly relied on recent advances in semiconductor technology in order to offer customers a huge amount of appealing features of overwhelming complexity. As traditional functional tests are no longer sufficient to fulfill a
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_________::3a169aa2692498fb87260583d4fa0cd3
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Autor:
Reimann, Felix, Glaß, Michael, Teich, Jürgen, Cook, Alejandro, Gómez, Laura Rodríguez, Ull, Dominik, Wunderlich, Hans-Joachim, Engelke, Piet, Abelein, Ulrich
Publikováno v:
Proceedings of the the 51st Annual Design Automation Conference Design Automation Conference; 6/1/2014, p1-9, 9p
Autor:
Reimann, Felix, Glass, Michael, Teich, Jurgen, Cook, Alejandro, Gomez, Laura Rodriguez, Ull, Dominik, Wunderlich, Hans-Joachim, Abelein, Ulrich, Engelke, Piet
Publikováno v:
2014 51st ACM/EDAC/IEEE Design Automation Conference (DAC); 2014, p1-6, 6p
Publikováno v:
2014 19th IEEE European Test Symposium (ETS); 2014, p1-6, 6p
Autor:
Abelein, Ulrich, Cook, Alejandro, Engelke, Piet, Glas, Michael, Reimann, Felix, Gomez, Laura Rodriguez, Russ, Thomas, Teich, Jurgen, Ull, Dominik, Wunderlich, Hans-Joachim
Publikováno v:
2014 Design, Automation & Test in Europe Conference & Exhibition (DATE); 01/01/2014, p1-6, 6p
Publikováno v:
2013 IEEE International Symposium on Defect & Fault Tolerance in VLSI & Nanotechnology Systems (DFTS); 2013, p137-142, 6p
Publikováno v:
2012 17TH IEEE EUROPEAN TEST SYMPOSIUM (ETS); 1/ 1/2012, p1-6, 6p
Autor:
Cook, Alejandro, Ull, Dominik, Elm, Melanie, Wunderlich, Hans-Joachim, Randoll, Helmut, Dohren, Stefan
Publikováno v:
2012 IEEE 21st Asian Test Symposium; 1/ 1/2012, p214-219, 6p
Autor:
Cook, Alejandro, Hellebrand, Sybille, Imhof, Michael E., Mumtaz, Abdullah, Wunderlich, Hans-Joachim
Publikováno v:
2012 13th Latin American Test Workshop (LATW); 1/ 1/2012, p1-4, 4p