Zobrazeno 1 - 10
of 1 294
pro vyhledávání: '"Constant photocurrent method"'
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Autor:
Nicol, David1 (AUTHOR) david.nicol@strath.ac.uk, Reynolds, Stephen2 (AUTHOR), Barr, Kristopher1 (AUTHOR), Roberts, Joseph W.3 (AUTHOR), Jarman, John J.4 (AUTHOR), Chalker, Paul R.3 (AUTHOR), Massabuau, Fabien C.‐P.1 (AUTHOR)
Publikováno v:
Physica Status Solidi (B). May2024, Vol. 261 Issue 5, p1-7. 7p.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Publikováno v:
In Optical Materials November 2014 37:70-73
Publikováno v:
Journal of Theoretical and Applied Physics, Vol 13, Iss 2, Pp 107-113 (2019)
Different optical characterization techniques have been performed on a series of microcrystalline silicon thin films deposited using very high-frequency-assisted plasma-enhanced chemical vapor deposition process. The constant photocurrent method has
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_dedup___::39734f541ce116fa9a77543f0dbc9894
http://link.springer.com/article/10.1007/s40094-019-0325-4
http://link.springer.com/article/10.1007/s40094-019-0325-4
Publikováno v:
Technical Physics Letters. Sep2014, Vol. 40 Issue 9, p735-738. 4p.
Autor:
Nicol, David, Reynolds, Stephen, Barr, Kristopher, Roberts, Joseph W., Jarman, John J., Chalker, Paul R., Massabuau, Fabien C.‐P.
Publikováno v:
Physica Status Solidi (B); May2024, Vol. 261 Issue 5, p1-7, 7p
Publikováno v:
In Journal of Non-Crystalline Solids 1 May 2008 354(19-25):2282-2285
Autor:
Gordo, P.M., Ferreira Marques, M.F., Lopes Gil, C., de Lima, A.P., Lavareda, G., Nunes de Carvalho, C., Amaral, A., Kajcsos, Zs.
Publikováno v:
In Radiation Physics and Chemistry 2007 76(2):220-223