Výsledky vyhledávání - "Conlan, Aidan P."

Akademický článek

Electron beam induced current microscopy of silicon p–n junctions in a scanning transmission electron microscope.

Autor: Conlan, Aidan P., Moldovan, Grigore, Bruas, Lucas, Monroy, Eva, Cooper, David

Publikováno v: Journal of Applied Physics; 4/7/2021, Vol. 129 Issue 13, p1-9, 9p

Zobrazit plný text záznamu

Akademický článek

Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.

Akademický článek

Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.

Akademický článek

In-Situ EBIC STEM: Automated Quantification.

Autor: Moldovan, Grigore, Conlan, Aidan P., Cooper, David

Publikováno v: Microscopy & Microanalysis; 2022 Supplement, Vol. 28, p1718-1719, 2p

Zobrazit plný text záznamu