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pro vyhledávání: '"Conception en tenant compte de la fiabilité"'
Autor:
Lahbib, Insaf
Les travaux de cette thèse portent sur la simulation de la dégradation des paramètres électriques des transistors MOS et bipolaires sous stress statiques et dynamiques. Cette étude a été menée à l’aide d’un outil de simulation de fiabili
Externí odkaz:
http://www.theses.fr/2017NORMC256
Autor:
Lahbib, Insaf
Publikováno v:
Micro et nanotechnologies/Microélectronique. Normandie Université, 2017. Français
The work of this thesis focuses on the simulation of the electrical parameters degradation of MOS and bipolar transistors under static and dynamic stresses. This study was conducted using an in-house reliability simulation tool. According to the MOS
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=dedup_wf_001::7475ef7cde702de7e1970da8ed51defd
https://hal.archives-ouvertes.fr/tel-02406800
https://hal.archives-ouvertes.fr/tel-02406800