Zobrazeno 1 - 10
of 32
pro vyhledávání: '"Cobley, R. J."'
Autor:
Cobley, R. J.
This work investigates Cross-Sectional Scanning Tunnelling Microscopy applied to semiconductor laser structures which are biased whilst they are being scanned. Images are presented as a function of sample bias. Increasing the sample bias removes the
Externí odkaz:
http://ethos.bl.uk/OrderDetails.do?uin=uk.bl.ethos.636273
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Autor:
Barnett, C. J., Kryvchenkova, O., Wilson, L. S. J., Maffeis, T. G. G., Kalna, K., Cobley, R. J.
Publikováno v:
Journal of Applied Physics; 2015, Vol. 117 Issue 17, p174306-1-174306-7, 7p, 1 Diagram, 4 Graphs
Publikováno v:
Journal of Applied Physics; May2010, Vol. 107 Issue 9, p094507-1-094507-6, 6p
Publikováno v:
Journal of Applied Physics; 7/15/2007, Vol. 102 Issue 2, p024306, 7p, 1 Color Photograph, 2 Diagrams, 5 Graphs
Modeling multiple quantum barrier effects and reduced electron leakage in red-emitting laser diodes.
Autor:
Brown, M. R., Cobley, R. J., Teng, K. S., Rees, P., Wilks, S. P., Sobiesierski, A., Smowton, P. M., Blood, P.
Publikováno v:
Journal of Applied Physics; 10/15/2006, Vol. 100 Issue 8, p084509, 8p, 1 Diagram, 2 Charts, 8 Graphs
Publikováno v:
Journal of Applied Physics; 8/1/2005, Vol. 98 Issue 3, p033525, 7p, 3 Black and White Photographs, 1 Diagram, 5 Graphs
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.