Zobrazeno 1 - 9
of 9
pro vyhledávání: '"Clougherty, F."'
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Autor:
Peterson, K., Logan, R., Xiaojun Yu, Dezfulian, K., Bazan, G., Winslow, J., Zamdmer, N., Dubuque, L., Walsh, B., Norfleet, A., Clougherty, F., Bayat, B., Mocuta, A., Rim, K.
Publikováno v:
Advanced Semiconductor Manufacturing Conference (ASMC), 2010 IEEE/SEMI; 2010, p179-183, 5p
Autor:
Poindexter, D., Walsh, B., Clougherty, F., Tetzloff, J., Thomas, D., Rizzolo, R., Salem, G., Crafts, J., Nelson, E.
Publikováno v:
Advanced Semiconductor Manufacturing Conference (ASMC), 2010 IEEE/SEMI; 2010, p92-98, 7p
Autor:
Pham, T.N., Clougherty, F., Salem, G., Crafts, J.M., Tetzloff, J., Moczygemba, P., Skergan, T.M.
Publikováno v:
2008 IEEE International Test Conference; 2008, p1-7, 7p
Autor:
Gabor, A. H., Brunner, T., Bukofsky, S., Butt, S., Clougherty, F., Deshpande, S., Faure, T., Gluschenkov, O., Greene, K., Johnson, J., Le, N, Lindo, P., Mahorowala, A. P., Nam, H-J., Onsongo, D., Poindexter, D., Rankin, J., Rohrer, N., Stiffler, S., Thomas, A.
Publikováno v:
Proceedings of SPIE; Nov2007 Part 2, Issue 1, p65210K-65210K-7, 7p
Autor:
Logan, L.R., Greene, B.J., McStay, K., Liang, Q., Na, M.-H., Nowak, E., Ku, S.-H., Friedrich, J., Clougherty, F., Dufrene, B., Zamdmer, N., Chidambarrao, D., Williams, R., McCullen, J., Slisher, D., Springer, S., Crabbe, E., Freeman, G.
Publikováno v:
2007 IEEE/SEMI Advanced Semiconductor Manufacturing Conference; 2007, p218-222, 5p
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Autor:
Scott, J.C., Gluschenkov, O., Goplen, B., Landis, H., Nowak, E., Clougherty, F., Mocuta, A., Hook, T., Zamdmer, N., Lai, C.W., Eller, M., Chidambarrao, D., Yu, J., Chang, P., Ferris, J., Deshpande, S., Li, Y., Shang, H., Hefferon, G., Divakaruni, R.
Publikováno v:
2009 Symposium on VLSI Technology; 2009, p152-153, 2p
Publikováno v:
1999 IEEE Ultrasonics Symposium Proceedings International Symposium (Cat No99CH37027); 1999, Issue 2, p1521-1521, 1p