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pro vyhledávání: '"Cleonilson Protásio de Souza"'
Publikováno v:
Revista Principia, Vol 1, Iss 32, Pp 65-75 (2016)
O aumento da densidade de transistores em circuitos integrados (CIs), em virtude dos avanços da tecnologia de fabricação, tornaram os procedimentos de testes de CIs mais complexos ao passo que quanto maior a densidade, menor é o espaçamento entr
Externí odkaz:
https://doaj.org/article/e4a96ddd214d43bbb899969c3a8f05e3
Autor:
Camboim, Marcelo Miranda, Oliveira, Vinicius Silva, Villarim, Mariana Rodrigues, Villarim, Andrea Willa Rodrigues, Catunda, Sebastian Yuri Cavalcanti, Baiocchi, Orlando R., de Souza, Cleonilson Protasio
Publikováno v:
IEEE Transactions on Instrumentation & Measurement; Oct2020, Vol. 69 Issue 10, p7962-7973, 12p
Autor:
Tenorio, Hugo Cesar Rocha Liborio, Vieira, Debora Albuquerque, de Souza, Cleonilson Protasio, de Macedo, Euler Cassio Tavares, Freire, Raimundo Carlos Silverio
Publikováno v:
2016 IEEE International Instrumentation & Measurement Technology Conference Proceedings; 2016, p1-5, 5p
Publikováno v:
Biblioteca Digital de Teses e Dissertações da UFCG
Universidade Federal de Campina Grande (UFCG)
instacron:UFCG
Universidade Federal de Campina Grande (UFCG)
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https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=od______3056::73b1d0364f0a546b8035b1940aad1638
http://dspace.sti.ufcg.edu.br:8080/jspui/handle/riufcg/3192
http://dspace.sti.ufcg.edu.br:8080/jspui/handle/riufcg/3192
Publikováno v:
IEEE Instrumentation & Measurement Magazine; Apr2017, Vol. 20 Issue 2, p13-19, 7p
Autor:
Albuquerque Vieira, Debora, Prescila Santos, Maraiza, F. Melo Costa, Ana Cristina, Protasio Souza, Cleonilson
Publikováno v:
IEEE Latin America Transactions; Sep2016, Vol. 14 Issue 9, p4070-4075, 6p
Autor:
Lima, Robson Pacifico Guimaraes, Arruda, Bruno Willian de Souza, de Souza, Cleonilson Protasio
Publikováno v:
2013 IEEE International Instrumentation & Measurement Technology Conference (I2MTC); 2013, p593-596, 4p
Autor:
Daher, Jorge
Publikováno v:
IEEE Instrumentation & Measurement Magazine; Apr2017, Vol. 20 Issue 2, p2-3, 2p
Publikováno v:
IEEE Instrumentation & Measurement Magazine; Apr2017, Vol. 20 Issue 2, p3-3, 1p
Autor:
Moer, Wendy Van
Publikováno v:
IEEE Instrumentation & Measurement Magazine; Apr2017, Vol. 20 Issue 2, p2-2, 1p