Single event transient effects in a voltage reference

Autor: Adell, P.C. ^*, Schrimpf, R.D., Cirba, C.R., Holman, W.T., Zhu, X., Barnaby, H.J., Mion, O.

Publikováno v: In Microelectronics Reliability 2005 45(2):355-359

Modeling low dose rate effects in irradiated bipolar base oxides

Autor: Graves, R.J., Cirba, C.R., Schrimpf, R.D., Milanowski, R.J., Michez, A., Fleetwood, D.M., Witczak, S.C., Saigné, Frédéric

Publikováno v: 35th IEEE Nuclear Space and Radiation Effects Conference
35th IEEE Nuclear Space and Radiation Effects Conference, 1998, Newport Beach, United States

International audience

Externí odkaz: https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=dedup_wf_001::d6b1a2f2a75e63f6bfeecbbe9921b999
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-01803584

Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.

Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.

Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.