Zobrazeno 1 - 10
of 147
pro vyhledávání: '"Ciofi, I"'
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Publikováno v:
In Microelectronics Reliability September 2017 76-77:131-135
Publikováno v:
In Microelectronic Engineering 2011 88(5):651-655
Publikováno v:
In Microelectronic Engineering 2006 83(11):2179-2183
Autor:
Wu, C., Li, Y., Leśniewska, A., Varela Pedreira, O., de Marneffe, J.-F., Ciofi, I., Verdonck, P., Baklanov, M. R., Bömmels, J., De Wolf, I., Tőkei, Zs., Croes, K.
Publikováno v:
Journal of Applied Physics; 2015, Vol. 118 Issue 16, p164101-1-164101-10, 10p, 5 Diagrams, 2 Charts, 15 Graphs
Publikováno v:
Journal of Applied Physics; 2015, Vol. 117 Issue 6, p064101-1-064101-8, 8p, 1 Diagram, 2 Charts, 12 Graphs
Autor:
Travaly, Y ∗, Eyckens, B, Carbonel, L, Rothschild, A, Le, Q.T, Brongersma, S.H, Ciofi, I, Struyf, H, Furukawa, Y, Stucchi, M, Schaekers, M, Bender, H, Rosseel, E, Vanhaelemeersch, S, Maex, K, Gaillard, F, Van Autryve, L, Rabinzohn, P
Publikováno v:
In Microelectronic Engineering 2002 64(1):367-374
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Conference
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Conference
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.