Zobrazeno 1 - 9
of 9
pro vyhledávání: '"Chun, Beomsoo"'
Autor:
Yoo, Taewoong a, Chun, Beomsoo a, Hahm, Donghyo b, c, Bae, Wan Ki b, Lee, Taesoo a, d, ⁎, Kwak, Jeonghun a, ⁎⁎
Publikováno v:
In Organic Electronics March 2025 138
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Publikováno v:
Small Methods; Feb2024, Vol. 8 Issue 2, p1-16, 16p
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Autor:
Lee, Kwangkeun, Park, Ganghyun, Chun, Beomsoo, Yoo, Taewoong, Shin, Doyoon, Bae, Wan Ki, Lee, Taesoo, Kwak, Jeonghun
Publikováno v:
ACS Applied Materials & Interfaces; 20240101, Issue: Preprints
Autor:
Lee K; Department of Electrical and Computer Engineering, Inter-university Semiconductor Research Center, and SOFT Foundry Institute, Seoul National University, 1, Gwanak-ro, Gwanak-gu, Seoul 08826, Republic of Korea., Park G; Department of Electrical and Computer Engineering, Inter-university Semiconductor Research Center, and SOFT Foundry Institute, Seoul National University, 1, Gwanak-ro, Gwanak-gu, Seoul 08826, Republic of Korea., Chun B; Department of Electrical and Computer Engineering, Inter-university Semiconductor Research Center, and SOFT Foundry Institute, Seoul National University, 1, Gwanak-ro, Gwanak-gu, Seoul 08826, Republic of Korea., Yoo T; Department of Electrical and Computer Engineering, Inter-university Semiconductor Research Center, and SOFT Foundry Institute, Seoul National University, 1, Gwanak-ro, Gwanak-gu, Seoul 08826, Republic of Korea., Shin D; SKKU Advanced Institute of Nano Technology (SAINT), Sungkyunkwan University, Seobu-ro, Jangan-gu, Suwon-si, 16419 Gyeonggi-do, Republic of Korea., Bae WK; SKKU Advanced Institute of Nano Technology (SAINT), Sungkyunkwan University, Seobu-ro, Jangan-gu, Suwon-si, 16419 Gyeonggi-do, Republic of Korea., Lee T; Department of Electrical and Computer Engineering, Inter-university Semiconductor Research Center, and SOFT Foundry Institute, Seoul National University, 1, Gwanak-ro, Gwanak-gu, Seoul 08826, Republic of Korea.; School of Electrical and Electronic Engineering, Inha University, 100, Inha-ro, Michuhol-gu, Incheon 22212, Republic of Korea., Kwak J; Department of Electrical and Computer Engineering, Inter-university Semiconductor Research Center, and SOFT Foundry Institute, Seoul National University, 1, Gwanak-ro, Gwanak-gu, Seoul 08826, Republic of Korea.
Publikováno v:
ACS applied materials & interfaces [ACS Appl Mater Interfaces] 2024 Dec 23. Date of Electronic Publication: 2024 Dec 23.