Zobrazeno 1 - 1 of 1 pro vyhledávání: '"Chin, Lim Phei"'
1
Akademický článek
Detection of Monocrystalline Silicon Wafer Defects Using Deep Transfer Learning.
Autor: Ganum, Adriana, Awang Iskandar, D. N. F., Chin, Lim Phei, Fauzi, Ahmad Hadinata
Publikováno v: Journal of Telecommunications & Information Technology; 2022, Issue 1, p34-42, 9p
Zobrazit plný text záznamu

Vyhledávací nástroje:

Upřesnit hledání

Omezení vyhledávání
Plný text Recenzováno Digitální knihovna AV ČR
Zdroje