Zobrazeno 1 - 10
of 242
pro vyhledávání: '"Chiarella T"'
Autor:
Cerdeira, A. a, ⁎, Garduño, I. a, Tinoco, J. b, Ritzenthaler, R. c, Franco, J. c, Togo, M. c, Chiarella, T. c, Claeys, C. c, d
Publikováno v:
In Solid State Electronics September 2013 87:11-16
Autor:
Theodorou, C.G. a, c, ⁎, Fasarakis, N. a, Hoffman, T. b, Chiarella, T. b, Ghibaudo, G. c, Dimitriadis, C.A. a
Publikováno v:
In Solid State Electronics April 2013 82:21-24
Publikováno v:
In Microelectronic Engineering 2011 88(7):1317-1322
Autor:
Chiarella, T. ⁎, Witters, L., Mercha, A., Kerner, C., Rakowski, M., Ortolland, C., Ragnarsson, L.-Å., Parvais, B., De Keersgieter, A., Kubicek, S., Redolfi, A., Vrancken, C., Brus, S., Lauwers, A., Absil, P., Biesemans, S., Hoffmann, T.
Publikováno v:
In Solid State Electronics 2010 54(9):855-860
Autor:
Augendre, E. a, ⁎, 1, Pawlak, B.J. b, Kubicek, S. a, Hoffmann, T. a, Chiarella, T. a, Kerner, C. a, Severi, S. a, Falepin, A. a, 2, Ramos, J. a, 3, De Keersgieter, A. a, Eyben, P. a, Vanhaeren, D. a, Vandervorst, W. a, Jurczak, M. a, Absil, P. a, Biesemans, S. a
Publikováno v:
In Solid State Electronics 2007 51(11):1432-1436
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Autor:
Kittl, J.A. a, ⁎, 1, Pawlak, M.A. a, Lauwers, A. a, Demeurisse, C. a, Hoffmann, T. a, Veloso, A. a, Anil, K.G. a, Kubicek, S. a, Niwa, M. a, 2, van Dal, M.J.H. b, Richard, O. a, Jurczak, M. a, Vrancken, C. a, Chiarella, T. a, Brus, S. a, Maex, K. a, Biesemans, S. a
Publikováno v:
In Microelectronic Engineering 2006 83(11):2117-2121
Autor:
Meuris, M. a, *, Delabie, A. a, Van Elshocht, S. a, Kubicek, S. a, Verheyen, P. a, De Jaeger, B. a, Van Steenbergen, J. a, Winderickx, G. a, Van Moorhem, E. a, Puurunen, R.L. a, Brijs, B. a, Caymax, M. a, Conard, T. a, Richard, O. a, Vandervorst, W. a, Zhao, C. a, De Gendt, S. a, Schram, T. a, Chiarella, T. a, Onsia, B. a, Teerlinck, I. a, Houssa, M. a, Mertens, P.W. a, Raskin, G. b, Mijlemans, P. b, Biesemans, S. a, Heyns, M.M. a
Publikováno v:
In Materials Science in Semiconductor Processing 2005 8(1):203-207
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.