Zobrazeno 1 - 10 of 43 pro vyhledávání: '"Cheynet, M.C."'
1
Akademický článek
Improved comparison of low energy loss spectra with band structure calculations: the example of BN filaments
Autor: Moreau, P *, Cheynet, M.C
Publikováno v: In Ultramicroscopy 2003 94(3):293-303
Zobrazit plný text záznamu
2
Investigation of low-k materials using EFTEM, Z-contrast imaging and low-loss spectroscopy
Autor: Cheynet, M.C., Pokrant, S.
Publikováno v: Xème colloque de la Société Française des Microscopies
Xème colloque de la Société Française des Microscopies, Jun 2007, Grenoble, France
Externí odkaz: https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=dedup_wf_001::3d8031adecd32f124cde63633851ffb3
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00214153
Zobrazit plný text záznamu
3
Investigation de films minces d'HfO2 par HRTEM et EELS (poster)
Autor: Cheynet, M.C., Pokrant, S., Tichelaar, F., Rouvière, J.L.
Publikováno v: Xème colloque de la Société Française des Microscopies
Xème colloque de la Société Française des Microscopies, Jun 2007, Grenoble, France
Externí odkaz: https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=dedup_wf_001::16d42502826d69554f3d46121b8a1cd7
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00214154
Zobrazit plný text záznamu
5
Low-loss spectroscopy for low-k dielectric analysis (oral)
Autor: Cheynet, M.C., Pokrant, S.
Publikováno v: Workshop on new trends in electron microscopy: low-loss EELS and "In-Situ"
Workshop on new trends in electron microscopy: low-loss EELS and "In-Situ", 2007, Germany
Externí odkaz: https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=dedup_wf_001::d964c4d03078f559c4fb5557052bcfab
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00214148
Zobrazit plný text záznamu
6
Le STEM: principe et applications
Autor: Cheynet, M.C.
Publikováno v: Journée thématique du réseau RéCaMiA
Journée thématique du réseau RéCaMiA, Nov 2006, Lyon, France
Externí odkaz: https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=dedup_wf_001::6b0f2a3d45b3f2811594e1ab500a1e88
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00140838
Zobrazit plný text záznamu
8
Monitoring chemical composition and band gap at a sub-nanometer scale using valence electron scattering response in a high resolution FEG-TEM
Autor: Cheynet, M.C., Pokrant, S., Tichelaar, F. D.
Publikováno v: Monitoring chemical composition and band gap at a sub-nanometer scale using valence electron scattering response in a high resolution FEG-TEM
International Microscopy Conference IMC-16
International Microscopy Conference IMC-16, 2006, Sapporo, Japan. a paraitre
Externí odkaz: https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=dedup_wf_001::6155034f2d63f10449d11e43c430d3d7
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00157459
Zobrazit plný text záznamu

Vyhledávací nástroje:

Upřesnit hledání

Omezení vyhledávání
Plný text Recenzováno Digitální knihovna AV ČR
Zdroje