Zobrazeno 1 - 10
of 102
pro vyhledávání: '"Cheng, P.J."'
Autor:
Shyu, M.K., Hwa, H.L., Su, Y.N., Shih, J.C., Chao, K.H., Chiu, Y.C., Chang, K.C., Liu, C.J., Su, T.H., Chen, D.S., Chen, S.M., Lin, C.C., Lin, P.Y., Yang, W.R., Hu, J.J., Yang, C.K., Chang, Y.K., Chen, K.H., Lin, H.H., Lin, Y.H., Chen, H.J., Pan, H.S., Lau, B.H., Lee, C.L., Cheng, P.J., Chang, Y.L., Chiueh, H.Y., Wang, T.H., Hsu, J.J., Lo, L.M., Hsieh, C.L., Cheng, S.W., Tsai, M.S., Lin, L.H., She, B.Q., Peng, F.S., Lin, Y.C., Chen, C.P., Huang, J.P., Yeung, C.Y., Wen, Wan-Hsin, Chen, Huey-Ling, Shih, Tiffany Ting-Fang, Wu, Jia-Feng, Ni, Yen-Hsuan, Lee, Chien-Nan, Zhao, Lu-Lu, Lai, Ming-Wei, Mu, Shu-Chi, Tung, Yi-Ching, Hsu, Hong-Yuan, Chang, Mei-Hwei
Publikováno v:
In Journal of Hepatology June 2020 72(6):1082-1087
Publikováno v:
In Sensors & Actuators: A. Physical 2009 150(1):156-167
Publikováno v:
In International Journal of Gynecology and Obstetrics 2007 99(3):229-232
Publikováno v:
In European Journal of Obstetrics and Gynecology 2006 128(1):29-33
Publikováno v:
In Microelectronics Reliability 2006 46(8):1369-1381
Publikováno v:
In Microelectronics Reliability 2005 45(3):657-663
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Autor:
Cheng, P.J., Lin, S.C. *
Publikováno v:
In Journal of Materials Processing Tech. 2001 108(3):314-319
Autor:
Cheng, P.J., Lin, S.C. *
Publikováno v:
In Journal of Materials Processing Tech. 2000 101(1):260-267
Autor:
Cheng, P.J, Lin, S.C *
Publikováno v:
In International Journal of Machine Tools and Manufacture 2000 40(8):1185-1197