Zobrazeno 1 - 10
of 10
pro vyhledávání: '"Chen, Zhongshu"'
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Publikováno v:
In Knowledge-Based Systems 25 November 2023 280
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Publikováno v:
IEEE Transactions on Industrial Informatics. 18:2486-2496
Fast recognition of integrated circuits markings is an essential but challenging task in electronic device manufacturing lines. This article develops an adaptive deep learning framework to facilitate the fast marking recognition of IC chips. The prop
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_________::43ffff892a9555a15b22ba8f639c2bb8
https://doi.org/10.1109/tii.2021.3093388
https://doi.org/10.1109/tii.2021.3093388
Publikováno v:
IEEE Transactions on Industrial Informatics; 2024, Vol. 20 Issue: 3 p3133-3143, 11p
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.