Zobrazeno 1 - 10
of 62
pro vyhledávání: '"Chen, Zhenjiao"'
Recently, deep learning technology has been successfully applied in the field of image compression, leading to superior rate-distortion performance. It is crucial to design an effective and efficient entropy model to estimate the probability distribu
Externí odkaz:
http://arxiv.org/abs/2403.14471
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Publikováno v:
Internet Research, 2021, Vol. 32, Issue 1, pp. 120-149.
Externí odkaz:
http://www.emeraldinsight.com/doi/10.1108/INTR-07-2020-0397
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Autor:
Lu, Benjiang, Chen, Zhenjiao
Publikováno v:
In Information & Management November 2021 58(7)
Autor:
Chen, Zhenjiao.
Publikováno v:
access full-text access abstract and table of contents.
Thesis (Ph.D.)--City University of Hong Kong, 2009.
"Submitted to Department of Management in partial fulfillment of the requirements for the degree of Doctor of Philosophy." Includes bibliographical references (leaves 174-195)
"Submitted to Department of Management in partial fulfillment of the requirements for the degree of Doctor of Philosophy." Includes bibliographical references (leaves 174-195)
Publikováno v:
In Information & Management March 2019 56(2):294-305
Publikováno v:
Dianzi Jishu Yingyong, Vol 45, Iss 7, Pp 40-43 (2019)
In MCU and other application systems, the system power supply voltage is often under-voltage or unexpectedly power-off, resulting in the MCU program “run away” or loss of important data. In order to avoid these situations as far as possible, the
Externí odkaz:
https://doaj.org/article/06071c26c1884dcc9c7d1cef1b8c9151
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Publikováno v:
Electronics (2079-9292); Sep2023, Vol. 12 Issue 18, p3821, 13p