Zobrazeno 1 - 10
of 61
pro vyhledávání: '"Chelly, Avraham"'
Publikováno v:
In Results in Physics May 2023 48
Publikováno v:
In Applied Surface Science 1 December 2021 568
Metal-Oxide-Semiconductor (MOS) structures containing 74Ge nanocrystals (NC-Ge) imbedded inside the SiO_2 layer were studied for their capacitance characterization. Ge atoms were introduced by implantation of 74Ge+ ions with energy of 150 keV into re
Externí odkaz:
http://arxiv.org/abs/0909.3235
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Publikováno v:
In Photonics and Nanostructures - Fundamentals and Applications 2011 9(1):35-41
Publikováno v:
In Photonics and Nanostructures - Fundamentals and Applications 2009 7(4):190-197
Publikováno v:
In Microelectronics Journal December 2008 39(12):1429-1432
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Autor:
Karsenty, Avi1, Chelly, Avraham2
Publikováno v:
Active & Passive Electronic Components. 10/28/2015, p1-5. 5p. 1 Diagram, 3 Graphs.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.