Zobrazeno 1 - 10
of 153
pro vyhledávání: '"Chatry, N."'
Publikováno v:
In Nuclear Engineering and Design January 2022 386
Autor:
Nguyen, Hoang T., Rodriguez, A., Wrobel, F., Michez, A., Bezerra, F., Chatry, N., Vandevelde, B.
Publikováno v:
In Microelectronics Reliability September 2018 88-90:974-978
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Publikováno v:
IEEE Transactions on Nuclear Science; Aug2018, Vol. 65 Issue 8, p1759-1767, 9p
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Autor:
Samaras, A., Vandevelde, B., Sukhaseum, N., Chatry, N., Rodriguez, A., Wrobel, Frédéric, Bezerra, F., Lorfèvre, E., Ecoffet, R.
Publikováno v:
IEEE RADECS 2015
IEEE RADECS 2015, 2015, Moscou, Russia
IEEE RADECS 2015, 2015, Moscou, Russia
International audience
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=dedup_wf_001::c58b48082ad8c6c2e79f4b890c741f2f
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-01932459
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-01932459
Autor:
Boch, J., Michez, A., Rousselet, M., Dhombres, S., Touboul, A. D., Vaille, J.-R., Dusseau, L., Lorfevre, E., Chatry, N., Sukhaseum, N., Saigne, F.
Publikováno v:
IEEE Transactions on Nuclear Science; Aug2016 Part 1, Vol. 63 Issue a4, p2065-2071, 7p
Autor:
Boch, J., Michez, A., Rousselet, M., Dhombres, S., Dusseau, L., Lorfevre, E., Chatry, N., Sukhaseum, N., Saigne, F.
Publikováno v:
2015 15th European Conference on Radiation & Its Effects on Components & Systems (RADECS); 2015, p1-4, 4p
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.