Zobrazeno 1 - 7
of 7
pro vyhledávání: '"Charles M Dozier"'
Autor:
Noureddine Anibou, Charles M. Dozier
Publikováno v:
Powder Diffraction. 24:102-106
Verification of materials is an increasingly important need in pharmaceutical distribution. XStream Systems, Inc. has developed an energy dispersive X-ray diffraction (EDXRD) system which can quickly verify crystalline pharmaceuticals in the distribu
Autor:
Jay Freshman, Charles M. Dozier, Robert R. Whitlock, Rodney Petr, David W. Hoey, Daniel A. Newman, John Heaton
Publikováno v:
SPIE Proceedings.
Absolute intensities of spectra in a dense-plasma-focus (DPF) source have been recorded and analyzed. This DPF source has been identified as one of the more promising sources for X-ray lithography. The source, developed by Science Research Laboratory
Autor:
Charles M. Dozier, Daniel A. Newman, James H. Morris, I. C. Edmond Turcu, Robert R. Whitlock, C. J. Gaeta, Thomas Kleindolph, Michael F. Powers, Richard Forber, Kelly L. Cassidy
Publikováno v:
SPIE Proceedings.
X-ray spectra of Cu plasmas at the focus of a four-beam, solid-state diode-pumped laser have been recorded. This laser-plasma X-ray source is being developed for JMAR's lithography systems aimed at high- performance semiconductor integrated circuits.
Periodical
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Conference
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Conference
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.