Zobrazeno 1 - 10
of 74
pro vyhledávání: '"Chappell, B.A."'
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Autor:
Shahidi, G.G., Ning, T.H., Chappell, T.I., Comfort, J.H., Chappell, B.A., Franch, R., Anderson, C.J., Cook, P.W., Schuster, S.E., Rosenfield, M.G., Polcari, M.R., Dennard, R.H., Davari, B.
Publikováno v:
Proceedings of IEEE International Electron Devices Meeting; 1993, p813-816, 4p
Autor:
Chappell, T.I., Chappell, B.A., Schuster, S.E., Allan, J.W., Kepner, S.P., Joshi, R.V., French, R.L.
Publikováno v:
1991 IEEE International Solid-State Circuits Conference Digest of Technical Papers; 1991, p50-288, 239p
Publikováno v:
Seventeenth European Solid State Circuits Conference; 1991, p209-212, 4p
Publikováno v:
IEEE Journal of Solid-State Circuits; 1992, Vol. 27 Issue 7, p1073-1079, 7p
Autor:
Chappell, T.I., Chappell, B.A., Schuster, S.E., Allan, J.W., Klepner, S.P., Joshi, R.V., Franch, R.L.
Publikováno v:
IEEE Journal of Solid-State Circuits; 1991, Vol. 26 Issue 11, p1577-1585, 9p
Autor:
Chappell, T.I., Schuster, S.E., Chappell, B.A., Allan, J.W., Sun, J.Y., Klepner, S.P., Franch, S.P., Greier, P.F., Restle, P.J.
Publikováno v:
IEEE Journal of Solid-State Circuits; 1989, Vol. 24 Issue 4, p859-868, 10p
Autor:
Chappell, B.A., Chappell, T.I., Schuster, S.E., Segmuller, H.M., Allan, J.W., Franch, R.L., Restle, P.J.
Publikováno v:
IEEE Journal of Solid-State Circuits; 1988, Vol. 23 Issue 1, p59-67, 9p
Autor:
Schuster, S.E., Chappell, B.A., Franch, R.L., Greier, P.F., Klepner, S.P., Lai, F.J., Cook, P.W., Lipa, R.A., Perry, R.J., Pokorny, W.F., Roberge, M.A.
Publikováno v:
IEEE Journal of Solid-State Circuits; 1986, Vol. 21 Issue 5, p704-712, 9p
Autor:
Shahidi, G.G., Anderson, C.A., Chappell, B.A., Chappell, T.I., Comfort, J.H., Davari, B., Dennard, R.H., Franch, R.L., McFarland, P.A., Neely, J.S., Ning, T.H., Polcari, M.R., Warnock, J.D.
Publikováno v:
IEEE Transactions on Electron Devices; 1994, Vol. 41 Issue 12, p2405-2412, 8p