Zobrazeno 1 - 10
of 385
pro vyhledávání: '"Chapman, G.H."'
Publikováno v:
In Thin Solid Films 2007 515(7):3760-3765
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Conference
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Autor:
Stolz, Levin1 (AUTHOR) benedikt.beutel@ilm-ulm.de, Beutel, Benedikt1 (AUTHOR), Kienle, Alwin1 (AUTHOR), Foschum, Florian1 (AUTHOR)
Publikováno v:
Sensors (14248220). Jun2024, Vol. 24 Issue 11, p3525. 17p.
Publikováno v:
2011 IEEE International Symposium on Defect & Fault Tolerance in VLSI & Nanotechnology Systems (DFT); 2011, p408-416, 9p
Autor:
Jain, V.K., Chapman, G.H.
Publikováno v:
2011 IEEE International Symposium on Defect & Fault Tolerance in VLSI & Nanotechnology Systems (DFT); 2011, p235-242, 8p
Publikováno v:
2011 IEEE International Symposium on Defect & Fault Tolerance in VLSI & Nanotechnology Systems (DFT); 2011, p181-189, 9p
Autor:
Jain, V.K., Chapman, G.H.
Publikováno v:
2010 IEEE 25th International Symposium on Defect & Fault Tolerance in VLSI Systems (DFT); 2010, p319-327, 9p
Publikováno v:
2010 IEEE 25th International Symposium on Defect & Fault Tolerance in VLSI Systems (DFT); 2010, p231-239, 9p
Publikováno v:
2009 24th IEEE International Symposium on Defect & Fault Tolerance in VLSI Systems; 2009, p155-163, 9p