Zobrazeno 1 - 10
of 45
pro vyhledávání: '"Channel materials"'
Publikováno v:
Bayero Journal of Pure and Applied Sciences; Vol. 13 No. 1 (2022): Special Conference Edition; 204-210
Carbon Nanotube Field Effect Transistors (CNTFET) are promising Nano-scaled devices for implementing high performance and low power circuits. As the conventional silicon metal-oxide-semiconductor field-effect transistor (MOSFET) approaches its scalin
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Publikováno v:
Bayero Journal of Pure and Applied Sciences; Vol 11, No 1 (2018): Special Conference Edition; 55-63
Metal oxide semiconductor field effect transistor (MOSFET) is a semiconductor device used in many electronic devices for amplification and switching electrical signals. MOSFET downscaling has been the driving force towards the technological advanceme
The exponential rise in the density of silicon CMOS transistors has now reached a limit and threatening to end the microelectronics revolution. To tackle this difficulty, group III–V compound semiconductors due to their outstanding electron transpo
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_dedup___::3005155fda9e81c2830346269ffa9421
Kniha
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Autor:
Robert McCormack, Darragh Buckley, Colm O'Dwyer, David McNulty, Peter J. Parbrook, Vitaly Z. Zubialevich
Publikováno v:
ECS Meeting Abstracts. :1296-1296
Zinc oxide (ZnO) and its doped counterparts such as Al:ZnO are extensively investigated as indium-free alternatives for oxide electronics including solar cells, light emitting diodes and also display technologies. For the latter application, thin fil
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Autor:
Alexander Zaslavsky, S. T. Picraux, Shadi A. Dayeh, C. Le Royer, Sorin Cristoloveanu, Son T. Le, Jing Wan, Daniel E. Perea
Publikováno v:
Future Trends in Microelectronics: Frontiers and Innovations
Serge Luryi,Jimmy Xu and Alex Zaslavsky. Future Trends in Microelectronics: Frontiers and Innovations, John Wiley & Sons, Inc., Hoboken, NJ, USA, pp.81-92, 2013, 978-111-8442-16-6 (print)/978-1118678107(online). ⟨10.1002/9781118678107.ch5⟩
Serge Luryi,Jimmy Xu and Alex Zaslavsky. Future Trends in Microelectronics: Frontiers and Innovations, John Wiley & Sons, Inc., Hoboken, NJ, USA, pp.81-92, 2013, 978-111-8442-16-6 (print)/978-1118678107(online). ⟨10.1002/9781118678107.ch5⟩
This chapter contains sections titled: Introduction Enhancement of TFET I ON using Si 1-x Ge x and Ge Channel Materials Bipolar-Enhanced TFET: BET-FET A Feedback-Based High-Current Sharp-Switching Device: Z 2 -FET Conclusions ]]>
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_dedup___::1fa1d4f813a0bad8f91f8ff7ddee8e59
https://doi.org/10.1002/9781118678107.ch5
https://doi.org/10.1002/9781118678107.ch5