Výsledky vyhledávání - "Champac, Victor"

Knihovna AV ČR, v. v. i.

Odhlásit
Přihlášení
Jazyk
- English
- Čeština
Instituce

Pokročilé vyhledávání

Zahrnout EIZ

Zachovat současné nastavení filtrů

EXPAND:"fulltext"

Domovská stránka
Vyhledávání: "Champac, Victor"
Navrhnout nákup titulu

Zobrazeno 1 - 10 of 89 pro vyhledávání: '"Champac, Victor"'

Řazení

Vybrat vše | Vybrané výsledky:

Vybrat výsledek číslo 1 1

Elektronická kniha

Timing Performance of Nanometer Digital Circuits under Process Variations. [electronic resource]

Autor: Champac, Victor

Externí odkaz: Kolekce e-knih KNAV Registrovani uzivatele: plny text online 5 minut, dalsi pristup na vyzadani. Registered users: full text online 5 minutes, further access on requests.

Vybrat výsledek číslo 2 2

Akademický článek

Aggravated NBTI reliability due to hard-to-detect open defects

Autor: Aguirre, Gustavo, Gamez, Jesus, Champac, Victor

Publikováno v: In Microelectronics Reliability September 2024 160

Zobrazit plný text záznamu

Vybrat výsledek číslo 3 3

Akademický článek

Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.

Vybrat výsledek číslo 4 4

Akademický článek

Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.

Vybrat výsledek číslo 5 5

Akademický článek

Screening small-delay defects using inter-path correlation to reduce reliability risk

Autor: García-Gervacio, José L., Nocua, Alejandro, Champac, Victor

Publikováno v: In Microelectronics Reliability May 2015 55(6):1005-1011

Zobrazit plný text záznamu

Vybrat výsledek číslo 6 6

Akademický článek

Low VDD and body bias conditions for testing bridge defects in the presence of process variations

Autor: Villacorta, Hector, Garcia-Gervacio, Jose, Segura, Jaume, Champac, Victor

Publikováno v: In Microelectronics Journal May 2015 46(5):398-403

Zobrazit plný text záznamu

Vybrat výsledek číslo 7 7

Akademický článek

Exploiting magnetic sensing capabilities of Short Split-Drain MAGFETs

Autor: Santillan-Quiñonez, Gerard F., Champac, Victor, Murphy, Roberto S.

Publikováno v: In Solid State Electronics 2010 54(11):1239-1245

Zobrazit plný text záznamu

Vybrat výsledek číslo 8 8

Akademický článek

Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.

Vybrat výsledek číslo 9 9

Akademický článek

Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.

Vybrat výsledek číslo 10 10

Akademický článek

Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.

Vybrat vše | Vybrané výsledky:

1
2
3
4
5
6
7
8
9
Další »
[9]

Vyhledávací nástroje:

RSS
Poslat e-mailem

Upřesnit hledání

Omezení vyhledávání

Plný text Recenzováno Digitální knihovna AV ČR

Zdroje

Pouze tištěné dokumenty

Zahrnout EIZ

59 Akademické články
20 Konferenční materiály
9 Časopisy
1 Knihy
1 Elektronické knihy
1 Electronic Resources

10 process variations
10 test
7 finfet technology
7 reliability
6 finfet
6 soft errors
5 integrated circuits
4 bridge defects
4 complementary metal oxide semiconductors
4 logic gates
4 small delay defects
4 statistical timing analysis
4 transistors
3 cmos
3 defects
3 design optimization
3 detection probability
3 failure probability
3 gates
3 integrated circuit interconnections
3 logic circuits
3 memory cell
3 opens
3 power resources
3 probability theory
3 process variation
3 static noise margin
2 advanced technologies
2 aging
2 circuit reliability
2 computer-aided design
2 correlation
2 defect
2 degradation
2 delay
2 delays
2 design-for-testability (dft)
2 detectors
2 digital electronics
2 electric circuits
2 failure prediction
2 fault
2 fault tolerance (engineering)
2 flip-flops
2 hall effect
2 high speed
2 ics
2 impact
2 integrated circuit design
2 integrated circuit modeling

27 ieee
16 springer nature
8 springer
6 ieee-inst electrical electronics engineers inc
5 elsevier b.v.
4 elsevier ltd
4 pergamon-elsevier science ltd
2 assoc computing machinery
2 ieee computer soc
1 association for computing machinery
1 elsevier sci ltd
1 hindawi limited
1 ieice-inst electronics information communications eng
1 mdpi

21 journal of electronic testing
10 ieee transactions on very large scale integration (vlsi) systems
8 microelectronics reliability
7 journal of electronic testing-theory and applications
5 ieee design & test of computers
3 2015 16th latin-american test symposium (lats)
3 microelectronics journal
2 2015 ifip/ieee international conference on very large scale integration (vlsi-soc)
2 acm journal on emerging technologies in computing systems
2 acm transactions on design automation of electronic systems
2 ecs transactions
2 proceedings of the ieee international caracas conference on devices, circuits and systems, iccdcs
2 proceedings of the ieee vlsi test symposium
2 solid-state electronics
2 vlsi design
1 2010 first ieee latin american symposium on circuits & systems (lascas)
1 2012 13th latin american test workshop (latw)
1 2012 ieee 30th vlsi test symposium (vts)
1 2013 14th european conference on radiation & its effects on components & systems (radecs)
1 2013 14th latin american test workshop - latw
1 2014 15th latin american test workshop - latw
1 2014 ieee 32nd vlsi test symposium (vts)
1 2014 ieee 57th international midwest symposium on circuits & systems (mwscas)
1 2015 ieee 33rd vlsi test symposium (vts)
1 2016 17th latin-american test symposium (lats)
1 ieee design & test
1 ieice electronics express
1 midwest symposium on circuits and systems
1 solid state electronics
1 technologies (2227-7080)

36 Complementary Index
23 Science Citation Index Expanded
11 Academic Search Ultimate
9 Supplemental Index
5 Scopus®
4 ScienceDirect
1 Vybrané kolekce e-knih

1 cuzco (peru)
1 peru

Od:

do:

Možnosti vyhledávání

Tematická mapa
Historie vyhledávání
Pokročilé vyhledávání

Objevte více

Abecední procházení

Hledáte pomoc?

Tipy pro vyhledávání

načítá se......