Zobrazeno 1 - 4
of 4
pro vyhledávání: '"Ch. Y. Huang"'
Publikováno v:
2009 16th IEEE International Symposium on the Physical and Failure Analysis of Integrated Circuits.
In this paper, the failure mechanism of VDMOS in DC/DC converter was analyzed in detail. The result was gained by the reliability project that included reliability experiment and reliability analysis. The VDMOS devices were used in the circuit of DC/
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_________::a3adbca5db21d244b57928893bd0d820
https://doi.org/10.1109/ipfa.2009.5232626
https://doi.org/10.1109/ipfa.2009.5232626
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Conference
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Conference
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.