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Autor:
Ch. Knedlik, V. Breternitz, Vlastimil Rehacek, K. Shtereva, Vladimir Tvarozek, Ivan Novotny, Lothar Spiess
Publikováno v:
Vacuum. 80:132-136
We have developed a mercury-plated microelectrode array based on Indium Tin Oxide (ITO) films (600 nm) prepared by rf reactive sputtering on a silicon substrate. Microelectrode behaviour of the disc arrays has been characterised by cyclic voltammetry
Publikováno v:
Thin Solid Films. 488:140-148
Tribological performance of tungsten carbide/carbon (WC/C) multilayers of nanometers in period was investigated by a microtribometer. Coatings with various layer thicknesses and two different top layers, WC or C, were prepared by physical vapour depo
Autor:
Juergen A. Schaefer, Henry Romanus, M. Gubisch, L. Spiess, Gernot Ecke, Ch. Knedlik, Stefan Krischok, Y. Liu
Publikováno v:
Thin Solid Films. 488:132-139
Tungsten Carbide/Carbon (WC/C) multilayers of nanometres in period were developed for applications in the bearings used for nanopositioning. The present work is concerned with the characterization of the microstructure, composition and mechanical pro
Publikováno v:
Materialwissenschaft und Werkstofftechnik. 35:916-923
In dieser Arbeit wird der Einfluss der Biasspannung im Bereich von 0 V bis –800 V auf die Eigenschaften von 1 μm dicken DC und RF Magnetron gesputterten Wolframkarbidschichten auf niedriglegierten Kaltarbeitsstahl 90MnCrV8 untersucht. Die Schichte
Autor:
Th. Weber, Juergen A. Schaefer, V. Breternitz, F. Scharmann, Ch. Knedlik, G. Hartung, Gennady Cherkashinin
Publikováno v:
Surface and Interface Analysis. 36:981-985
Viscosity measurements of GaInSn eutectic alloys were performed in a homebuilt device for low (9%) and high (95%) relative humidity for shorter (450 min) and longer (1800 min) time periods. At constant exposure time a characteristic increase of visco
Autor:
Ch. Knedlik, Vlastimil Rehacek, Vladimir Tvarozek, L. Spiess, Ivan Novotny, A. Jakubec, V. Breternitz
Publikováno v:
Materialwissenschaft und Werkstofftechnik. 34:662-665
Selected properties of indium-tin-oxide (ITO) films prepared by r.f. diode sputtering have been investigated in consideration of surface morphology, optical properties, crystal structure and phase formation, electrical resistivity and chemical resist
Autor:
F. Gräbner, Henry Romanus, Ch. Knedlik, Gerd Teichert, S. Hildenbrand, M. Koledintseva, A. Hungsberg
Publikováno v:
Materialwissenschaft und Werkstofftechnik. 34:603-607
Es ist gelungen mittels des Sputterverfahrens ferritische Multilayerschichten auf HF-Leiterplattenmaterial der Firmen Rogers (USA) und Mauritz ( Germany) abzuscheiden. Es wurde eine fast linear anwachsende Reflexionsdampfung von 0,6 dB ab 1000 MHz bi
Autor:
L. Spieß, Ch. Knedlik
Publikováno v:
Materialwissenschaft und Werkstofftechnik. 34:648-653
Messen von Langen ist ein Vergleichen/Bewerten von erhaltenen Messsignalen mit einem Standard/Kalibriermassstab. Die Nanotechnik erfordert Messgenauigkeiten vom Submeter bis zum Nanometerbereich, d. h. ein Uberstreichen von 9 Grosenordnungen. Messmar
Autor:
Rastislav Ivanic, Ivan Novotny, V. Breternitz, Vlastimil Rehacek, Ch. Knedlik, Lothar Spiess, Vladimir Tvarozek
Publikováno v:
Vacuum. 61:229-234
This work deals with Y 2 O 3 thin films prepared by r.f. diode sputtering for application in electrochemical sensors. The influence of annealing on selected electrical and mechanical properties of Y 2 O 3 thin films has been studied. With increasing
Publikováno v:
Microelectronics Reliability. 32:21-24
Material transport in current-stressed metallization lines has been simulated. On the basis of partial differential equations, a physical model is established which allows the calculation of material concentration and material flow at each point of t