Zobrazeno 1 - 4
of 4
pro vyhledávání: '"Ch. Bourban"'
Publikováno v:
ACS Symposium Series ISBN: 9780841235625
Scanning Probe Microscopy of Polymers
Scanning Probe Microscopy of Polymers
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_________::b77ae85ab2d6ee284d97ae00804ffb6b
https://doi.org/10.1021/bk-1998-0694.ch011
https://doi.org/10.1021/bk-1998-0694.ch011
Kniha
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Autor:
BUDDY D. RATNER, VLADIMIR V. TSUKRUK, René M. Overney, D. H. Reneker, I. Chun, Wolfgang Stocker, Andrew J. Lovinger, Martina Schumacher, Sabine Graff, Jean-Claude Wittmann, Bernard Lotz, G. J. Vansco, H. Schönherr, D. Snétivy, M. C. Goh, M. F. Paige, P. Markiewicz, I. Yadegari, M. Edirisinghe, S. Hild, A. Rosa, O. Marti, Ph. Leclère, R. Lazzaroni, F. Gubbels, M. De Vos, R. Deltour, R. Jérôme, J.L. Bredas, M. P. Everson, M. Mikulec, P. Schmitz, Fabio Biscarini, Jan Domke, Christian Rotsch, Paul K. Hansma, Ken Jacobson, Manfred Radmacher, Ch. Bourban, J. Mergaert, K. Ruffieux, J. Swings, E. Wintermantel, Atsushi Takahara, Shouren Ge, Ken Kojio, Tisato Kajiyama, L. M. Eng, Jouko Peltonen, Tapani Viitala, Valery N. Bliznyuk, John L. Hazel, John Wu, J. P. Aimé, S. Gauthier, Jon A. Hammerschmidt, Greg Haugstad, Bahram Moasser, Richard R. Jones, Wayne L. Gladfelter, R. Lüthi, Meyer, M. Bammerlin, A. Baratoff, J. Lü, M. Guggisberg, H.-J. Güntherodt, Dmitri V. Vezenov, Aleksandr Noy, Charles M. Lieber, T. Boland, E. E. Johnston, A. Huber