Zobrazeno 1 - 10
of 101
pro vyhledávání: '"Cathode lens"'
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Autor:
A.T. Ibrayev
Publikováno v:
EurasianUnionScientists. 2:29-32
The paper proposes a method for taking into account the effect of space charge on the quality of focusing of charged particles and investigates the problem of the formation of an intense flux of charged particles using a transaxial cathode lens, whic
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_________::906e579db9dd23ab519d7ac78c05714c
https://doi.org/10.31618/esu.2413-9335.2020.2.76.906
https://doi.org/10.31618/esu.2413-9335.2020.2.76.906
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Autor:
Alessandro Sala
Publikováno v:
Springer Handbook of Surface Science ISBN: 9783030469047
The capability to display images containing chemical, magnetic, and structural information and to perform spectroscopy and diffraction from a μm-sized area makes cathode lens electron microscopy one of the most used and reliable techniques to analyz
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_dedup___::e394a3ba4c8e23eef22ac9a766996c7d
http://hdl.handle.net/11368/3015959
http://hdl.handle.net/11368/3015959
Autor:
Rudolf M. Tromp
Publikováno v:
Ultramicroscopy. 199
Measurement of chromatic aberration in a Low Energy Electron Microscope (LEEM) or Photo Electron Emission Microscope (PEEM) is necessary for quantitative image interpretation, and for accurate correction of chromatic aberration in an aberration-corre
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_dedup___::1ed601b37102c582da6c3145d5da972e
https://pubmed.ncbi.nlm.nih.gov/30772717
https://pubmed.ncbi.nlm.nih.gov/30772717
Autor:
Alpamys T. Ibrayev
Publikováno v:
Microscopy and Microanalysis. 21:270-275
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_________::62179fdb8b4fd1842e54a279e721a0ec
https://doi.org/10.1017/s1431927615013495
https://doi.org/10.1017/s1431927615013495
Autor:
Gerd Schönhense
Publikováno v:
Microscopy and Microanalysis. 21:118-123
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_________::fc81c987d4e47777125b2657bde9ed1c
https://doi.org/10.1017/s1431927615013240
https://doi.org/10.1017/s1431927615013240
Autor:
Chun-I Lu, Chien-Chen Kuo, Yen Huang, Deng-Sung Lin, Der-Hsin Wei, Tzu-Hung Chuang, Chih-Heng Huang
Publikováno v:
Microscopy and Microanalysis. 24:156-157
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_________::8e0ae7e0eb6eb7f48cb0a2468dbf7b10
https://doi.org/10.1017/s1431927618013168
https://doi.org/10.1017/s1431927618013168
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Autor:
Zuzana Pokorná, Šárka Mikmeková, Eliška Mikmeková, Ludĕk Frank, Ilona Müllerová, Miloš Hovorka
Publikováno v:
Materials, Vol 5, Iss 12, Pp 2731-2756 (2012)
Materials
Materials
The high negative bias of a sample in a scanning electron microscope constitutes the “cathode lens” with a strong electric field just above the sample surface. This mode offers a convenient tool for controlling the landing energy of electrons dow
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_dedup___::e4720069c353bbcf67723b457058ce67
http://www.mdpi.com/1996-1944/5/12/2731
http://www.mdpi.com/1996-1944/5/12/2731