Zobrazeno 1 - 10
of 23
pro vyhledávání: '"Catabay, W."'
Autor:
Mirabedini, M.R., Gopinath, V.P., Kamath, A., Lee, M.Y., Hsia, W.J., Hornback, V., Le, Y., Badowski, A., Baylis, B., Li, E., Prasad, S., Kobozeva, O., Haywood, J., Catabay, W., Yeh, W.C.
Publikováno v:
2003 IEEE International Reliability Physics Symposium Proceedings, 2003. 41st Annual; 2003, p112-115, 4p
Publikováno v:
Proceedings of ISSM2000. Ninth International Symposium on Semiconductor Manufacturing (IEEE Cat. No.00CH37130); 2000, p403-406, 4p
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Comparison of CHARM-2 and surface potential measurement to monitor plasma induced gate oxide damage.
Publikováno v:
1999 4th International Symposium on Plasma Process-Induced Damage (IEEE Cat No99TH8395); 1999, p104-107, 4p
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Autor:
Pallinti, J., Lakshminarayanan, S., Barth, W., Wright, P., Lu, M., Reder, S., Kwak, L., Catabay, W., Wang, D., Ho, F.
Publikováno v:
Proceedings of the IEEE 2003 International Interconnect Technology Conference (Cat. No.03TH8695); 2003, p83-85, 3p
Autor:
Chuan-cheng Cheng, Wei-jen Hsia, Pallinti, J., Neumann, S., Koh, J., Li, P., Mei Zhu, Lu, M., Hao Cui, Fujimoto, T., Catabay, W., Wright, P.
Publikováno v:
Proceedings of the IEEE 2002 International Interconnect Technology Conference (Cat. No.02EX519); 2002, p256-258, 3p
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.