Zobrazeno 1 - 10
of 191
pro vyhledávání: '"Cassano, L."'
Autor:
Copelli, C., Tewfik, K., Cassano, L., Pederneschi, N., Zompo, M.R. Del, Giovine, M., Manfuso, A.
Publikováno v:
In Oral Surgery, Oral Medicine, Oral Pathology and Oral Radiology June 2022 133(6):e163-e169
Autor:
Manfuso, A., Pansini, A., Cassano, L., Pederneschi, N., Tewfik, K., Califano, L., Copelli, C.
Publikováno v:
In Journal of Stomatology oral and Maxillofacial Surgery April 2022 123(2):209-214
Publikováno v:
In British Journal of Oral & Maxillofacial Surgery October 2021 59(8):921-927
Autor:
Copelli, C., Manfuso, A., d'Ecclesia, A., Catanzaro, S., Cassano, L., Pederneschi, N., Tewfik Hanna, K., Cocchi, R.
Publikováno v:
In Journal of Cranio-Maxillo-Facial Surgery December 2015 43(10):1974-1978
Publikováno v:
2022 25th International Symposium on Design and Diagnostics of Electronic Circuits and Systems (DDECS).
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_dedup___::84bcd9f85118933ed343b518317f9103
https://doi.org/10.1109/ddecs54261.2022.9770162
https://doi.org/10.1109/ddecs54261.2022.9770162
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Autor:
Bellizia, D., El Mrabet, N., Fournaris, A.P., Pontié, S., Regazzoni, F., Standaert, F.-X., Tasso, É., Valea, E., Dilillo, L., Cassano, L., Papadimitriou, A.
Publikováno v:
34th IEEE International Symposium on Defect and Fault Tolerance in VLSI and Nanotechnology Systems: Athens, Greece (on-line virtual event), October 6-8, 2021 : DFT
34th IEEE International Symposium on Defect and Fault Tolerance in VLSI and Nanotechnology Systems
34th IEEE International Symposium on Defect and Fault Tolerance in VLSI and Nanotechnology Systems, Oct 2021, Athènes, Greece. pp.10.1109/DFT52944.2021.9568301, ⟨10.1109/DFT52944.2021.9568301⟩
DFT
34th IEEE International Symposium on Defect and Fault Tolerance in VLSI and Nanotechnology Systems
34th IEEE International Symposium on Defect and Fault Tolerance in VLSI and Nanotechnology Systems, Oct 2021, Athènes, Greece. pp.10.1109/DFT52944.2021.9568301, ⟨10.1109/DFT52944.2021.9568301⟩
DFT
International audience; Post-Quantum Cryptography (PQC) will become soon the standard for many systems of the future. With the advent of quantum computers, all encrypted communications based on traditional asymmetric cryptography (e.g., RSA, ECC) wil
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_dedup___::afd45d2766b8a849139f5645e9f78fd5
https://dare.uva.nl/personal/pure/en/publications/postquantum-cryptography-challenges-and-opportunities-for-robust-and-secure-hw-design(9dbf2c29-2adb-449c-8d18-d54f5b880a34).html
https://dare.uva.nl/personal/pure/en/publications/postquantum-cryptography-challenges-and-opportunities-for-robust-and-secure-hw-design(9dbf2c29-2adb-449c-8d18-d54f5b880a34).html
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.