Zobrazeno 1 - 10
of 62
pro vyhledávání: '"Carniello, S."'
Publikováno v:
In Solid State Electronics December 2016 126:158-162
Publikováno v:
In Thin Solid Films 1 March 2013 530:91-95
Autor:
Tyaginov, S.E., Starkov, I.A., Triebl, O., Cervenka, J., Jungemann, C., Carniello, S., Park, J.M., Enichlmair, H., Karner, M., Kernstock, Ch., Seebacher, E., Minixhofer, R., Ceric, H., Grasser, T.
Publikováno v:
In Microelectronics Reliability 2010 50(9):1267-1272
Publikováno v:
In Microelectronics Reliability 2007 47(9):1439-1443
Autor:
Mazzaro, C, Panarello, G, Carniello, S, Faelli, A, Mazzi, G, Crovatto, M, Baracetti, S, Nascimben, F, Zorat, F, Pozzato, G, Faccini, L, Campanacci, L
Publikováno v:
In Digestive and Liver Disease 2000 32(8):708-715
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Publikováno v:
2010 17th IEEE International Symposium on the Physical & Failure Analysis of Integrated Circuits (IPFA); 2010, p1-5, 5p
Autor:
Starkov, I.A., Tyaginov, S.E., Triebl, O., Cervenka, J., Jungemann, C., Carniello, S., Park, J.M., Enichlmair, H., Karner, M., Kernstock, C., Seebacher, E., Minixhofer, R., Ceric, H., Grasser, T.
Publikováno v:
2010 17th IEEE International Symposium on the Physical & Failure Analysis of Integrated Circuits (IPFA); 2010, p1-6, 6p
Autor:
Tyaginov, S.E., Starkov, I.A., Triebl, O., Cervenka, J., Jungemann, C., Carniello, S., Park, J.M., Enichlmair, H., Karner, M., Kernstock, C., Seebacher, E., Minixhofer, R., Ceric, H., Grasser, T.
Publikováno v:
2010 17th IEEE International Symposium on the Physical & Failure Analysis of Integrated Circuits (IPFA); 2010, p1-5, 5p