Zobrazeno 1 - 10
of 2 774
pro vyhledávání: '"Carlson, E."'
Autor:
Basak, S., Banguero, M. Alzate, Burzawa, L., Simmons, F., Salev, P., Aigouy, L., Qazilbash, M. M., Schuller, I. K., Basov, D. N., Zimmers, A., Carlson, E. W.
Publikováno v:
Phys. Rev. B 107, 205121 (2023)
The capabilities of image probe experiments are rapidly expanding, providing new information about quantum materials on unprecedented length and time scales. Many such materials feature inhomogeneous electronic properties with intricate pattern forma
Externí odkaz:
http://arxiv.org/abs/2211.01490
Autor:
Song, Can-Li, Main, Elizabeth J., Simmons, Forrest, Liu, Shuo, Phillabaum, Benjamin, Dahmen, Karin A., Hudson, E. W., Hoffman, Jennifer E., Carlson, E. W.
Publikováno v:
Nat Commun 14, 2622 (2023)
Charge modulations have been widely observed in cuprates, suggesting their centrality for understanding the high-$T_c$ superconductivity in these materials. However, the dimensionality of these modulations remains controversial, including whether the
Externí odkaz:
http://arxiv.org/abs/2111.05389
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Publikováno v:
Condensed Matter 6, 39 (2021)
Scanning probes reveal complex, inhomogeneous patterns on the surface of many condensed matter systems. In some cases, the patterns form self-similar, fractal geometric clusters. In this paper, we advance the theory of criticality as it pertains to t
Externí odkaz:
http://arxiv.org/abs/1803.08485
Publikováno v:
Phys. Rev. Materials 3, 033805 (2019)
Scanning probe experiments such as scanning tunneling microscopy (STM) and atomic force microscopy (AFM) on strongly correlated electronic systems often reveal complex pattern formation on multiple length scales. By studying the universal scaling in
Externí odkaz:
http://arxiv.org/abs/1802.08862
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.