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Autor:
Friedrich. Ruedenauer, Wolfgang. Steiger, Miklos. Riedel, Horst E. Beske, Horst. Holzbrecher, Michael. Gericke, Carl Ernst. Richter, Michael. Rieth, Manfred. Trapp
Publikováno v:
Analytical Chemistry. 57:1636-1643
It is known from previous round-robin experiments that relative sensitivity factors, obtained on identical samples by different SIMS instruments, frequently disagree by a factor of up to 50. A method is suggested for cross-calibrating instruments in
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_________::f6e768bfd190df1e0c79a86e99287954
https://doi.org/10.1021/ac00285a030
https://doi.org/10.1021/ac00285a030
Autor:
Peter Käufler, Günter Dlubek, Burckhard Simmen, Carl-Ernst Richter, Jürgen Klöber, Hans-Jörg Hunger, Gert Wolf, Egbert Wieser, Bernd Kämpfe, Frank Werfel, Hubert Vöhse
Publikováno v:
Ausgewählte Untersuchungsverfahren in der Metallkunde
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_________::3e815be2cfbd4b9b5cf2e19b33a5432e
https://doi.org/10.1007/978-3-7091-9503-1
https://doi.org/10.1007/978-3-7091-9503-1
Autor:
Carl-Ernst Richter
Publikováno v:
Ausgewählte Untersuchungsverfahren in der Metallkunde ISBN: 9783709195048
Unter dem Begriff Sekundarionen-Massenspektrometrie (SIMS) oder Ionenstrahl-Mikroanalyse versteht man die Kombination von Zerstaubungs- (Sputter-) Prozes mittels eines gebundelten Ionenstrahls und Massenspektrometrie der dabei ausgelosten Sekundarion
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_________::6064b2fc549855aef13609f78502bf87
https://doi.org/10.1007/978-3-7091-9503-1_8
https://doi.org/10.1007/978-3-7091-9503-1_8