Zobrazeno 1 - 10
of 9 976
pro vyhledávání: '"Capacitor discharge"'
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Publikováno v:
Journal of Physical Chemistry C; 5/30/2024, Vol. 128 Issue 21, p651-657, 7p
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Autor:
Faria, Fábio Silva, Dourado da Silva, Rodrigo Gustavo, de Melo Antunes, Mariana, Lima e Silva, Sandro Metrevelle Marcondes de
Publikováno v:
In International Journal of Thermal Sciences February 2025 208
Autor:
Xiaojun Zhang, Jiaqiang Yang
Publikováno v:
IEEE Access, Vol 12, Pp 61949-61958 (2024)
The bleeding circuit is important for dropping the dc-bus voltage to safe voltage when electric vehicles (EVs) encounter an emergency. However, the bleeding circuit may be bulky and heavy to ensure that the total discharge operation can be completed
Externí odkaz:
https://doaj.org/article/14d44176f0174020b2d519ab242c79c3
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Autor:
Michał Michna, Andrzej Wilk, Marek Wołoszyk, Michał Ziółko, Stanisław Galla, Piotr Szwangruber
Publikováno v:
Archives of Electrical Engineering, Vol vol. 72, Iss No 2, Pp 323-338 (2023)
The article presents selected issues related to the development and testing of the diagnostics systems dedicated for superconducting electromagnets. The systems were constructed to assess the production quality of superconducting electromagnets of th
Externí odkaz:
https://doaj.org/article/164ea1b1ddef45049cd2b1871997f9fe
Autor:
García, H., Jiménez-Molinos, F., Vinuesa, G., González, M.B., Roldán, J.B., Miranda, E., Campabadal, F., Castán, H., Dueñas, S.
Publikováno v:
In Solid State Electronics August 2022 194