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pro vyhledávání: '"Capacité quasi-statique (QSCV)"'
Autor:
Pirro, Luca
Les substrats Silicium-sur-Isolant (SOI) représentent la meilleure solution pour obtenir des dispositifs microélectroniques ayant de hautes performances. Des méthodes de caractérisation électrique sont nécessaires pour contrôler la qualité SO
Externí odkaz:
http://www.theses.fr/2015GREAT096/document
Autor:
Luca, Pirro
Publikováno v:
Micro and nanotechnologies/Microelectronics. Univesite Grenoble Alpes, 2015. English
Silicon-on-insulator (SOI) substrates represent the best solution to achieve high performance devices. Electrical characterization methods are required to monitor the material quality before full transistor fabrication. The classical configuration us
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=od______2592::ac177b7862bfd51c469a411dc842e5eb
https://hal.archives-ouvertes.fr/tel-01248296/file/Pirro_thesis.pdf
https://hal.archives-ouvertes.fr/tel-01248296/file/Pirro_thesis.pdf
Autor:
Luca, Pirro
Publikováno v:
Micro and nanotechnologies/Microelectronics. Univesite Grenoble Alpes, 2015. English
Silicon-on-insulator (SOI) substrates represent the best solution to achieve high performance devices. Electrical characterization methods are required to monitor the material quality before full transistor fabrication. The classical configuration us
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=dedup_wf_001::ac177b7862bfd51c469a411dc842e5eb
https://hal.archives-ouvertes.fr/tel-01248296
https://hal.archives-ouvertes.fr/tel-01248296