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Autor:
Caicedo Solano, Nestor Enrique1 nestor.caicedo@uac.edu.co, Mahecha Bernal, Laura Juliana2 la-mahec@uniandes.edu.co
Publikováno v:
INGENIARE - Revista Chilena de Ingeniería. jan-mar2015, Vol. 23 Issue 1, p98-106. 9p.
Autor:
Caicedo Solano, Nestor Enrique1 nestor.caicedo@uac.edu.co
Publikováno v:
Producción Más Limpia. jul-dic2013, Vol. 8 Issue 2, p21-31. 11p. 1 Diagram, 5 Charts, 2 Graphs.
Publikováno v:
Ingeniare. Revista chilena de ingeniería v.23 n.1 2015
SciELO Chile
CONICYT Chile
instacron:CONICYT
SciELO Chile
CONICYT Chile
instacron:CONICYT
Las reglas de cambio entre inspección ajustada, normal y reducida propuestas por las tablas Mil-Std-105e, forman parte de los esquemas de muestreo más utilizados en inspección por atributos. Este artículo ilustra un método general que modela las
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https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=od______3056::cf26516e7684bcbb68d9008570fd2158
http://www.scielo.cl/scielo.php?script=sci_arttext&pid=S0718-33052015000100012
http://www.scielo.cl/scielo.php?script=sci_arttext&pid=S0718-33052015000100012