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Akademický článek
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Autor:
Zhang, Yuan Ci, Briat, Olivier, Boulon, Loïc, Deletage, Jean-Yves, Martin, Cyril, Coccetti, Fabio, Vinassa, Jean-Michel
Publikováno v:
In Applied Energy 1 August 2019 247:703-715
Autor:
Vincenzi, Giancarlo, Deligeorgis, G., Coccetti, Fabio, Dragoman, M., Pierantoni, Luca, Mencarelli, Davide, Plana, R.
Publikováno v:
Solid-State Electronics 76 (2012) 8-12
In this work, a modified, lumped element graphene field effect device model is presented. The model is based on the "Top-of-the-barrier" approach which is usually valid only for ballistic graphene nanotransistors. Proper modifications are introduced
Externí odkaz:
http://arxiv.org/abs/1207.4443
Publikováno v:
Appl. Phys. Lett., vol. 101, no. 1, pp. 013502--013502--3, Jul. 2012
We report on the fabrication and room temperature measurements of a high frequency electrical signal detector. The device is based on the ballistic transport in graphene to detect a high frequency signal. The observed response is linear in the consid
Externí odkaz:
http://arxiv.org/abs/1203.1773
Autor:
Peyrou, David, Pennec, Fabienne, Achkar, Hikmat, Pons, Patrick, Coccetti, Fabio, Aubert, Hervé, Plana, Robert
Publikováno v:
MRS Proc. 969 (2006) 0969-W05-06
This paper outlines the issues related to RF MEMS packaging and low actuation voltage. An original approach is presented concerning the modeling of capacitive contacts using multiphysics simulation and advanced characterization. A similar approach is
Externí odkaz:
http://arxiv.org/abs/0709.3022
Autor:
Zaghloul, Usama, Bhushan, Bharat, Papaioannou, George, Coccetti, Fabio, Pons, Patrick, Plana, Robert
Publikováno v:
In Journal of Colloid And Interface Science 2012 365(1):236-253
Autor:
Zaghloul, Usama, Papaioannou, George, Bhushan, Bharat, Coccetti, Fabio, Pons, Patrick, Plana, Robert
Publikováno v:
In Microelectronics Reliability September-November 2011 51(9-11):1810-1818
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Autor:
Matmat, Mohamed, Coccetti, Fabio, Marty, Antoine, Plana, Robert, Escriba, Christophe, Fourniols, Jean-Yves, Esteve, Daniel
Publikováno v:
In Microelectronics Reliability 2009 49(9):1304-1308
Autor:
Cabarbaye, André, Cabarbaye, Aurélien, Bensoussan, Alain, Gilard, Olivier, Sun How, Lip, Coccetti, Fabio
Publikováno v:
Congrès Lambda Mu 22 « Les risques au cœur des transitions » (e-congrès)-22e Congrès de Maîtrise des Risques et de Sûreté de Fonctionnement, Institut pour la Maîtrise des Risques
Congrès Lambda Mu 22 « Les risques au cœur des transitions » (e-congrès)-22e Congrès de Maîtrise des Risques et de Sûreté de Fonctionnement, Institut pour la Maîtrise des Risques, Oct 2020, Le Havre (e-congrès), France
Congrès Lambda Mu 22 « Les risques au cœur des transitions » (e-congrès)-22e Congrès de Maîtrise des Risques et de Sûreté de Fonctionnement, Institut pour la Maîtrise des Risques, Oct 2020, Le Havre (e-congrès), France
International audience; Une méthodologie de caractérisation de l’usure des composants électroniques et d’estimation de leur durée de fonctionnement avant défaillance (RUL : Remaining Useful Life) a été développée dans le cadre de deux pr
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=dedup_wf_001::aef2cd44b090a1a6581f4e3b0746efa6
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-03483537/document
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-03483537/document