Zobrazeno 1 - 10
of 36
pro vyhledávání: '"CMOS ACTIVE PIXEL SENSOR (APS)"'
Autor:
Haro, Miguel Sofo a, c, ∗, Bessia, Fabricio Alcalde b, c, Pérez, Martín a, c, Blostein, Juan Jerónimo b, c, Balmaceda, Darío Federico c, Berisso, Mariano Gomez b, c, Lipovetzky, José a, b, c
Publikováno v:
In Radiation Physics and Chemistry February 2020 167
Autor:
Cai, Yu-Long a, b, c, Guo, Qi a, b, ⁎, Li, Yu-Dong a, b, ⁎, Wen, Lin a, b, Zhou, Dong a, b, Feng, Jie a, b, Ma, Lin-Dong a, b, c, Zhang, Xiang a, b, c, Wang, Tian-Hui a, b, c
Publikováno v:
In Solid State Electronics February 2019 152:93-99
Autor:
Darío Federico Balmaceda, Jose Lipovetzky, Martin Perez, Mariano Gómez Berisso, J.J. Blostein, Miguel Sofo Haro, Fabricio Alcalde Bessia
Publikováno v:
CONICET Digital (CONICET)
Consejo Nacional de Investigaciones Científicas y Técnicas
instacron:CONICET
Consejo Nacional de Investigaciones Científicas y Técnicas
instacron:CONICET
Besides their application in point and shoot cameras, webcams, and cell phones, it has been shown that CMOS image sensors (CIS) can be used for dosimetry, X-ray and neutron imaging applications. In this work we will discuss the application of an ON S
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Publikováno v:
IEEE Transactions on Electron Devices. 56:2987-2994
A CMOS image sensor for laser-spot detection in an optical triangulation-based 3-D vision system is presented in this paper. Two aligned linear arrays, namely, a high-dynamic-range (DR) array and a winner-take-all array, independently perform DR enha
Autor:
Vincent Goiffon, Christophe Inguimbert, Pierre Magnan, Guy Rolland, Cedric Virmontois, Sophie Petit, Sylvain Girard, Olivier Saint-Pé
Publikováno v:
IEEE Transactions on Nuclear Science
IEEE Transactions on Nuclear Science, Institute of Electrical and Electronics Engineers, 2010, 57 (6), pp.3101-3108. ⟨10.1109/TNS.2010.2085448⟩
IEEE Transactions on Nuclear Science, 2010, 57 (6), pp.3101-3108. ⟨10.1109/TNS.2010.2085448⟩
IEEE Transactions on Nuclear Science, Institute of Electrical and Electronics Engineers, 2010, 57 (6), pp.3101-3108. ⟨10.1109/TNS.2010.2085448⟩
IEEE Transactions on Nuclear Science, 2010, 57 (6), pp.3101-3108. ⟨10.1109/TNS.2010.2085448⟩
International audience; Displacement damage effects due to proton and neutron irradiations of CMOS image sensors dedicated to imaging are presented through the analysis of the dark current behavior in pixel arrays and isolated photodiodes. The mean d
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_dedup___::7ec11565e83ec34d4980d6b5f0243505
https://hal-ujm.archives-ouvertes.fr/ujm-01011656
https://hal-ujm.archives-ouvertes.fr/ujm-01011656
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.