Zobrazeno 1 - 10
of 108
pro vyhledávání: '"CHUA, L. O."'
Autor:
James, A. P., Chua, L. O.
Publikováno v:
IEEE Transactions on Circuits and Systems 1: Regular Papers, 2021 (Special Issue for 50th Birthday of Memristor)
Memristor crossbar arrays are used in a wide range of in-memory and neuromorphic computing applications. However, memristor devices suffer from non-idealities that result in the variability of conductive states, making programming them to a desired a
Externí odkaz:
http://arxiv.org/abs/2105.04614
Publikováno v:
International Journal of Bifurcation and Chaos, 27(12), 2017, art. num. 1730038
Recently it was shown that in the dynamical model of Chua circuit both the classical selfexcited and hidden chaotic attractors can be found. In this paper the dynamics of the Chua circuit is revisited. The scenario of the chaotic dynamics development
Externí odkaz:
http://arxiv.org/abs/1710.02677
Autor:
Schmitt, N., Ascoli, A., Messaris, I., Demirkol, A. S., Menzel, S., Rana, V., Tetzlaff, R., Chua, L. O.
Publikováno v:
Frontiers in Nanotechnology (2673-3013); 2024, p1-30, 30p
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Autor:
Perez-Munuzuri, V., Munuzuri, A. P., Gomez-Gesteira, M., Perez-Villar, V., Pivka, L., Chua, L. O.
Publikováno v:
Philosophical Transactions: Physical Sciences and Engineering, 1995 Oct . 353(1701), 101-113.
Externí odkaz:
https://www.jstor.org/stable/54522
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Publikováno v:
2016 Design, Automation & Test in Europe Conference & Exhibition (DATE); 2016, p421-425, 5p