Zobrazeno 1 - 8
of 8
pro vyhledávání: '"C.H. Holder"'
Publikováno v:
2004 IEEE International Reliability Physics Symposium. Proceedings.
We present a comprehensive methodology for modeling, as a function of time, increased standby leakage current of VLSI circuits due to soft-breakdown. Predictions, using a post-soft-breakdown leakage-scaling model and device-level time-dependent diele
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_________::78a3015abf3af2648ad03d44dafd2d9d
https://doi.org/10.1109/relphy.2004.1315366
https://doi.org/10.1109/relphy.2004.1315366
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Conference
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.