Zobrazeno 1 - 10
of 99
pro vyhledávání: '"C.C. Ahn"'
Hydrogen can be used as an efficient and sustainable energy source to produce power while minimizing local greenhouse gas emissions. Hydrogen has about three times the energy by mass compared to most hydrocarbon liquid fuels, but given its low densit
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_________::c7b59f4f01e5c4407be34ad250308e77
https://doi.org/10.1016/b978-1-78242-362-1.00001-8
https://doi.org/10.1016/b978-1-78242-362-1.00001-8
Autor:
P. Agnolucci, R.K. Ahluwalia, C.C. Ahn, O. Akgul, A.-M. Beaulieu, N. Bento, P. Bénard, R. Chahine, A. Chakraborty, P.K. Chattaraj, R. Das, R.K. Dixon, D. Durette, R. Gerboni, I.A. Gondal, T.Q. Hua, J.-E. Kim, H.W. Langmi, F.G.N. Li, J. Li, W. McDowall, S. McWhorter, N.M. Musyoka, K. Ohira, S. Pan, M. Panfilov, L.G. Papageorgiou, J.-K. Peng, Y.-H. Percival Zhang, J. Ren, N.T. Stetson, G. Valenti, M.Q. Wang, N.K. Zhevago
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_________::02a8f257ef321abf8ac57cf1d684c4f8
https://doi.org/10.1016/b978-1-78242-362-1.09993-4
https://doi.org/10.1016/b978-1-78242-362-1.09993-4
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Publikováno v:
Ultramicroscopy. 33:177-185
The importance of the contribution due to inelastically scattered electrons to unfiltered HREM images is examined, with emphasis on imaging of defects in semiconductors. Whenever the low energy loss spectrum contains sharp peaks, the contribution is
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_________::790f271a9d545145e2014aebd100f451
https://doi.org/10.1016/0304-3991(90)90110-8
https://doi.org/10.1016/0304-3991(90)90110-8
Publikováno v:
Journal of Materials Research. 10:2408-2410
A nanocrystalline β–Sn film of 7 nm average grain size was prepared by inert gas condensation followed by ballistic consolidation, and was investigated by x-ray diffractometry at temperatures of 77 and 293 K. Although Sn normally undergoes a βα
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_________::4182e36128a91db83fdba5d0770a101a
https://doi.org/10.1557/jmr.1995.2408
https://doi.org/10.1557/jmr.1995.2408
Publikováno v:
Microphysics of Surfaces Nanoscale Processing.
The quantification of semiconductor surface roughness in the 0.5 - 10 nm range is a problem of current scientific and technological interest. Surface roughness measurements are also of great technological interest, particularly for silicon, since the
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_________::369933637834e215c7957849f2e988de
https://doi.org/10.1364/msnp.1995.mfa4
https://doi.org/10.1364/msnp.1995.mfa4
Publikováno v:
Microphysics of Surfaces: Beam-Induced Processes.
Modern epitaxial crystal growth techniques have made it possible to tailor compositionally modulated thin films on an atomic level. However, further progress in control of epitaxial growth is limited by a relative lack of useful in situ techniques fo
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_________::3ee6fff3491829d2f390d5c788623e69
https://doi.org/10.1364/msbip.1991.wc3
https://doi.org/10.1364/msbip.1991.wc3
Publikováno v:
Proceedings, annual meeting, Electron Microscopy Society of America. 51:634-635
In a special imaging mode (B mode) available on a customized JEM-4000EX microscope, the objective mini lens (OM) is strongly excited so that the back focal plane of the objective lens (OL) is imaged onto the plane of the selected-area aperture (SA),
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_________::5bef0b309bf3c69cde4f413b1670be15
https://doi.org/10.1017/s0424820100149003
https://doi.org/10.1017/s0424820100149003
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.