Zobrazeno 1 - 10
of 201
pro vyhledávání: '"C. Schimpf"'
Autor:
A. Premachandra, A. Mazeraud, C. Schimpf, R. Tortuyaux, C. Legouy, M. Daniel, X. Sauvageon, A. Benmostefa, A. Sermet, T. Sharshar, M. Wolff
Publikováno v:
Journal of Global Antimicrobial Resistance, Vol 27, Iss , Pp 247-249 (2021)
Externí odkaz:
https://doaj.org/article/34de5b7524974d359824b40d00499b61
Publikováno v:
Intermetallics. 160:107957
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_________::aaefb2e29e7eb44353513e4632734a9e
https://doi.org/10.1016/j.intermet.2023.107957
https://doi.org/10.1016/j.intermet.2023.107957
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Autor:
C. Schimpf, T. Sharshar, X. Sauvageon, C. Legouy, M. Daniel, A. Sermet, A. Benmostefa, A. Mazeraud, R. Tortuyaux, M. Wolff, A. Premachandra
Publikováno v:
Journal of Global Antimicrobial Resistance, Vol 27, Iss, Pp 247-249 (2021)
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_dedup___::0b9d06a7ffd2f7cc0ffa2043ae95a711
https://doi.org/10.1016/j.jgar.2021.10.013
https://doi.org/10.1016/j.jgar.2021.10.013
Autor:
T. Seidelmann, C. Schimpf, T. K. Bracht, M. Cosacchi, A. Vagov, A. Rastelli, D. E. Reiter, V. M. Axt
Entangled photon pairs are key to many novel applications in quantum technologies. Semiconductor quantum dots can be used as sources of on-demand, highly entangled photons. The fidelity to a fixed maximally entangled state is limited by the excitonic
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_dedup___::7e8089a365c99e211df5ac2a767b15ee
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Autor:
S. Martin, A. Weidner, C. Ullrich, C. Schimpf, M. Motylenko, R. Lehnert, H. Biermann, D. Rafaja, A. Vinogradov, Y. Estrin
Publikováno v:
Materials Characterization. 184:111667
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_________::3007159eeb80af2144b1bacb5da329db
https://doi.org/10.1016/j.matchar.2021.111667
https://doi.org/10.1016/j.matchar.2021.111667
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.