Zobrazeno 1 - 10
of 344
pro vyhledávání: '"C. J. Yeh"'
Autor:
R. Ramaneti, K. J. Sankaran, S. Korneychuk, C. J. Yeh, G. Degutis, K. C. Leou, J. Verbeeck, M. K. Van Bael, I. N. Lin, K. Haenen
Publikováno v:
APL Materials, Vol 5, Iss 6, Pp 066102-066102-10 (2017)
A “patterned-seeding technique” in combination with a “nanodiamond masked reactive ion etching process” is demonstrated for fabricating vertically aligned diamond-graphite hybrid (DGH) nanorod arrays. The DGH nanorod arrays possess super
Externí odkaz:
https://doaj.org/article/f59c5aeabc0740cbb9c9c1c6c07bc173
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Publikováno v:
Age and Ageing. 52
Background Multimorbidity patterns is associated with future mortality among older adults. However, the addictive effect of disability for distinct multimorbidity patters is unclear. Our aim was to identify the multimorbidity patterns of Taiwanese pe
Publikováno v:
Age and Ageing. 52
Background Multimorbidity has negative impacts on the health outcomes of older adults. Previous research has discovered different patterns of multimorbidity. However, evidence is scarce for associations between multimorbidity patterns and depression,
Publikováno v:
Ground water. 60(6)
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Autor:
S.-W. Chang, T.-H. Lu, C.-Y. Yang, C.-J. Yeh, M.-K. Huang, C.-F. Meng, P.-J. Chen, T.-H. Chang, Y.-S. Chang, J.-W. Jhu, T.-Z. Hong, C.-C. Ke, X.-R. Yu, W.-H. Lu, M. A. Baig, T.-C. Cho, P.-J. Sung, C.-J. Su, F.-K. Hsueh, B.-Y. Chen, H.-H. Hu, C.-T. Wu, K.-L. Lin, W. C.-Y. Ma, D.-D. Lu, K.-H. Kao, Y.-J. Lee, C.-L. Lin, K.-P. Huang, K.-M. Chen, Y. Li, S. Samukawa, T.-S. Chao, G.-W. Huang, W.-F. Wu, W.-H. Lee, J.-Y. Li, J.-M. Shieh, J.-H. Tarng, Y.-H. Wang, W.-K. Yeh
Publikováno v:
2021 IEEE International Electron Devices Meeting (IEDM).