Zobrazeno 1 - 1
of 1
pro vyhledávání: '"C. J. Jezewski"'
Autor:
M. Radosavljevic, C.-Y. Huang, W. Rachmady, S.H. Seung, N. K. Thomas, G. Dewey, A. Agrawal, K. Owens, C. C. Kuo, C. J. Jezewski, R. Nahm, N. Briggs, T. A. Tronic, T. Michaelos, N. A. Kabir, B. Holybee, K. Jun, P. Morrow, A. Phan, S. Shivaraman, H. W. Then, V. Kapinus, M. K. Harper, P. D. Nguyen, K. L. Cheong, S. Ghose, K. Ganguly, C. Bomberger, J. M. Tan, M. Abd El Qader, A. A. Oni, P. Fischer, R. Bristol, M. Metz, S. B. Clendenning, B. Turkot, R. Schenker, M. J. Kobrinsky, J. Kavalieros
Publikováno v:
2021 IEEE International Electron Devices Meeting (IEDM).
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_________::0a7310fad16fb1c2106d97427cb3506f
https://doi.org/10.1109/iedm19574.2021.9720633
https://doi.org/10.1109/iedm19574.2021.9720633
