Zobrazeno 1 - 10
of 25
pro vyhledávání: '"C. Giret"'
Kniha
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Publikováno v:
La Revue de Médecine Interne. 41:A170
Introduction L’effluvium telogene (ET) est la cause d’alopecie acquise diffuse la plus frequente, qui resulte de l’arret precoce de la phase anagene des cheveux, couple a l’acceleration de la phase telogene. Une alopecie diffuse non cicatrici
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_________::6a19cc21d79223e6a675abe6a1b2ee51
https://doi.org/10.1016/j.revmed.2020.10.288
https://doi.org/10.1016/j.revmed.2020.10.288
Publikováno v:
La Revue de Médecine Interne. 40:A126
Introduction La sitosterolemie est une maladie genetique rare due a une deregulation dans l’absorption de cholesterol resultant d’une accumulation de sterols d’origine vegetale. Elle peut s’associer des xanthomes, une anemie hemolytique stoma
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_________::d9ffe8824c5bfface268720c99315cfa
https://doi.org/10.1016/j.revmed.2019.10.166
https://doi.org/10.1016/j.revmed.2019.10.166
Publikováno v:
Microelectronics Reliability. 45:1562-1567
With the complexity of integrated circuitry and the decreasing size of components, usual isolation techniques (SEM inspections, Passive Voltage Contrast…) are not enough to find the defect. This paper presents an accurate methodology using the Sub
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_________::6cb6630448bb75c35c3a26e92cec13d9
https://doi.org/10.1016/j.microrel.2005.07.046
https://doi.org/10.1016/j.microrel.2005.07.046
Publikováno v:
Microelectronics Reliability. 43:1519-1523
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_________::c0ed880a72f3f98900adc5c97dc3113e
https://doi.org/10.1016/s0026-2714(03)00269-5
https://doi.org/10.1016/s0026-2714(03)00269-5
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Publikováno v:
Proceedings of the 11th International Symposium on the Physical and Failure Analysis of Integrated Circuits. IPFA 2004 (IEEE Cat. No.04TH8743).
As the failure mechanisms become more complex with IC technology progression, the failure analysis (FA) needs electrical characterization of die internal transistors to fault identification and discrimination of various defect types. The sub-micron p
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_________::9fb4366379dea22ab5d33b765fa0ab89
https://doi.org/10.1109/ipfa.2004.1345621
https://doi.org/10.1109/ipfa.2004.1345621
Conference
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.