Zobrazeno 1 - 10
of 199
pro vyhledávání: '"C. Flueraru"'
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Publikováno v:
Acta Geodaetica et Geophysica Hungarica. 45:112-119
The advantages brought by high resolution satellite data in activities related to flood mapping and flood monitoring are well know in the scientific community. The paper aims to prove that slighter older geospatial documents, such as historical maps,
Publikováno v:
Transactions in GIS. 11:927-941
The MODIS snowcover product is one of many geophysical products derived from MODIS data. A cross-validation of the MODIS snowcover daily products with data obtained from the meteorological network stations was conducted for the entire territory of Ro
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Publikováno v:
Surface Science. :448-452
Spectroellipsometry represents a powerful technique in non-destructive and contactless material characterization. In this paper, using the above mentioned spectroellipsometric technique, we measure the refractive index profile of wet thermal SiO2 fil
Autor:
P. Cosmin, R. Plugaru, S. Nastase, Cornel Cobianu, J. Auleytner, C. Flueraru, J. Adamczevska, W. Paszkowicz, Mircea Modreanu, N. Nastase
Publikováno v:
Scopus-Elsevier
In this paper we present a structural and morphological characterisation of the as-deposited low pressure chemically vapor deposited (LPCVD) silicon films prepared from silane. The results are related to the deposition kinetics in the temperature ran